這款熒光壽命測量系統(tǒng)是熒光壽命光譜儀,熒光壽命測量光譜儀,采用時間相關單光子計數(shù)TCSPC技術(shù)測量熒光壽命,是可靠的熒光壽命測試系統(tǒng).
時間相關單光子計數(shù)TCSPC已經(jīng)開發(fā)成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術(shù)，提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率。
這款熒光壽命測量系統(tǒng)采用亞納秒和皮秒脈沖二極管泵浦固體激光器DPSSL提供合適的波長,為合適的探測器提供足夠快的響應時間,還有現(xiàn)代電子計時設備來將復雜的采集技術(shù)融入PCI計算機板。DPSSL的研發(fā)使得現(xiàn)在可以設計出結(jié)構(gòu)緊密體型小的熒光壽命測量系統(tǒng)，用于生物環(huán)境,藥業(yè),化學技術(shù)半導體的納米技術(shù),*的光學材料技術(shù)等領域。
熒光壽命測量系統(tǒng)構(gòu)成
激光： STA-01SH
LD 激光驅(qū)動器
BS： 分束器
PD： 啟動脈沖的PIN光電二極管
PSU： 通用多通道電源（PA PMT，USB SMD，PD）
Att： 衰減器
USB SMD： 兩軸步進電機控制器 8SMC-USBh-B2-2
M1：電動翻轉(zhuǎn)透鏡- 8MR174-11+ 5MBM22SP-1
M2：透鏡@ 5MBM23-05
L1、L2： 聚焦透鏡 @ XYZ 平移臺
S@H： 樣品固定裝置 @ XYZ 平移臺
冷凝器： 檢測了的發(fā)射的消色差冷凝器
FN： 陷波濾波器（531 nm）
單色器
PMT： 單光子探測器
PA： 前置放大器(PMT)的光電倍增管
TEC： PMT熱電冷卻器
HVS： PMT高電壓
PC 和PCI TCSP–以PC 為基礎的采集系統(tǒng)
CCD（USB）
熒光壽命測量系統(tǒng)應用
生物技術(shù)與生物醫(yī)學科學
半導體科學與技術(shù)
激光材料與*光學材料的研究
環(huán)境保護
可能的發(fā)展
FRET技術(shù)
3D 生命壽命微測圖
終身板扶手（裝配線多樣本壽命分析）
熒光壽命測量系統(tǒng)軟件
熒光（或等離子體發(fā)射）的時間分辨光譜
空間分辨熒光壽命測量（壽命映射）
3D顯示數(shù)據(jù)和時間/波長軸剖面繪圖
發(fā)射衰減動力學反褶積
時間分辨的PL和PLE光譜軟件提供實驗采集數(shù)據(jù)的聲音和可視圖。有5個主要的測量制度：
動力衰減探測器（波長/光子能量）和激勵源（波長/光子能量和強度）的確定參數(shù)
在設置了激勵波長（能量）和強度條件下，在探測器波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和強度條件下，在激勵波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和激勵波長（能量）條件下，在激勵強度里動力衰減掃描
光子計數(shù)模式下的CW PL / PLE光譜，可以在掃描激勵平均強度的過程中測得。2個窗口實時顯示（RTD）表明動態(tài)積累過程（左窗口）和PL譜積分（PLE, I-dependence）–右窗口。
使用熒光壽命測量系統(tǒng)測量實例:
實驗1:測量ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光
實驗2：ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定光子能量的運動衰減的3D圖
實驗3：ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定延遲時間頻譜的3D圖
熒光壽命測量系統(tǒng)規(guī)格
測量光譜范圍: 200-1050nm
（300–1750nm需使用PMT和InGaAs光電陰極）
光譜分辨率： 0.05nm
可用激發(fā)波長: 1062nm,531nm,354nm,265.5nm
壽命測量域: 64·10-9–64秒
掃頻頻率 10~107Hz
時間分辨率
無反褶積 1ns
有反褶積 0.25ns
檢測到的信號動態(tài)范圍 36bit
10秒采集時間的信噪比 > 100
時間相關單光子計數(shù)TCSPC已經(jīng)開發(fā)成功超過25年,被廣泛認為是的熒光壽命測量技術(shù)，提供熒光衰減測試所需的超快時間分辨率。
這款熒光壽命測量系統(tǒng)采用亞納秒和皮秒脈沖二極管泵浦固體激光器DPSSL提供合適的波長,為合適的探測器提供足夠快的響應時間,還有現(xiàn)代電子計時設備來將復雜的采集技術(shù)融入PCI計算機板。DPSSL的研發(fā)使得現(xiàn)在可以設計出結(jié)構(gòu)緊密體型小的熒光壽命測量系統(tǒng)，用于生物環(huán)境,藥業(yè),化學技術(shù)半導體的納米技術(shù),*的光學材料技術(shù)等領域。
熒光壽命測量系統(tǒng)構(gòu)成
激光： STA-01SH
LD 激光驅(qū)動器
BS： 分束器
PD： 啟動脈沖的PIN光電二極管
PSU： 通用多通道電源（PA PMT，USB SMD，PD）
Att： 衰減器
USB SMD： 兩軸步進電機控制器 8SMC-USBh-B2-2
M1：電動翻轉(zhuǎn)透鏡- 8MR174-11+ 5MBM22SP-1
M2：透鏡@ 5MBM23-05
L1、L2： 聚焦透鏡 @ XYZ 平移臺
S@H： 樣品固定裝置 @ XYZ 平移臺
冷凝器： 檢測了的發(fā)射的消色差冷凝器
FN： 陷波濾波器（531 nm）
單色器
PMT： 單光子探測器
PA： 前置放大器(PMT)的光電倍增管
TEC： PMT熱電冷卻器
HVS： PMT高電壓
PC 和PCI TCSP–以PC 為基礎的采集系統(tǒng)
CCD（USB）
熒光壽命測量系統(tǒng)應用
生物技術(shù)與生物醫(yī)學科學
半導體科學與技術(shù)
激光材料與*光學材料的研究
環(huán)境保護
可能的發(fā)展
FRET技術(shù)
3D 生命壽命微測圖
終身板扶手（裝配線多樣本壽命分析）
熒光壽命測量系統(tǒng)軟件
熒光（或等離子體發(fā)射）的時間分辨光譜
空間分辨熒光壽命測量（壽命映射）
3D顯示數(shù)據(jù)和時間/波長軸剖面繪圖
發(fā)射衰減動力學反褶積
時間分辨的PL和PLE光譜軟件提供實驗采集數(shù)據(jù)的聲音和可視圖。有5個主要的測量制度：
動力衰減探測器（波長/光子能量）和激勵源（波長/光子能量和強度）的確定參數(shù)
在設置了激勵波長（能量）和強度條件下，在探測器波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和強度條件下，在激勵波長（能量）里動力衰減掃描
在設置了探測器波長（能量）和激勵波長（能量）條件下，在激勵強度里動力衰減掃描
光子計數(shù)模式下的CW PL / PLE光譜，可以在掃描激勵平均強度的過程中測得。2個窗口實時顯示（RTD）表明動態(tài)積累過程（左窗口）和PL譜積分（PLE, I-dependence）–右窗口。
使用熒光壽命測量系統(tǒng)測量實例:
實驗1:測量ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光
實驗2：ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定光子能量的運動衰減的3D圖
實驗3：ZnSe晶體中的雙光子激發(fā)熒光和選定延遲時間頻譜的3D圖
熒光壽命測量系統(tǒng)規(guī)格
測量光譜范圍: 200-1050nm
（300–1750nm需使用PMT和InGaAs光電陰極）
光譜分辨率： 0.05nm
可用激發(fā)波長: 1062nm,531nm,354nm,265.5nm
壽命測量域: 64·10-9–64秒
掃頻頻率 10~107Hz
時間分辨率
無反褶積 1ns
有反褶積 0.25ns
檢測到的信號動態(tài)范圍 36bit
10秒采集時間的信噪比 > 100
