閃爍探測(cè)器采用閃爍晶體作為探測(cè)物質(zhì)制作的閃爍體探測(cè)器,采用YAG:Ce,YAP:Ce,CRY18閃爍體材料制成,特別適合伽瑪射線探測(cè)成像,X射線探測(cè)成像,中子探測(cè)等應(yīng)用,非常方便測(cè)量。
閃爍探測(cè)器：提供多種類型的閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器,具有工作壽命長，熒光效率好等特點(diǎn)。目前，提供的標(biāo)準(zhǔn)閃爍探測(cè)器產(chǎn)品有
標(biāo)準(zhǔn)閃爍探測(cè)器：SE, BSE,TEM,Dark Field (ADF)
特殊閃爍體探測(cè)器：帶鏡頭的探測(cè)器，陣列探測(cè)器，陰極熒光探測(cè)器（CL)
閃爍探測(cè)器導(dǎo)光元件閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器,閃爍晶體（Scintillation detectors)
(YAG:Ce YAP:Ce LuAG:Ce BGO CaF:Eu CsI:Tl Cry018 Cry019)
我們?yōu)楦鞣N閃爍體探測(cè)器提供不同的導(dǎo)光元件，根據(jù)不同的閃爍晶體材料和應(yīng)用，我們提供如下多種材料的導(dǎo)光元件：
有機(jī)玻璃（PMMA),近紫外的特殊有機(jī)玻璃，光學(xué)玻璃BK7, 石英玻璃，有機(jī)玻璃或石英玻璃光纖，藍(lán)寶石，YAG
閃爍探測(cè)器和導(dǎo)光元件
閃爍體探測(cè)器單元：探測(cè)器單元由閃爍晶體熒光屏，特殊導(dǎo)光元件，安裝法蘭和相關(guān)的電子元件組成。探測(cè)器可以直接安裝到顯微鏡上，而且這種探測(cè)器可以與多種類型的顯微鏡匹配。
探測(cè)器晶振－由上述材料構(gòu)成 伽瑪射線探測(cè)器 基于閃爍材料制成的
標(biāo)準(zhǔn)的閃爍探測(cè)器（,YAG:Ce閃爍體,YAP:Ce晶體,LuAG:Ce晶體,BGO晶體, CaF:Eu晶體,CsI:Tl晶體 ） 是圓柱型的圓片，典型的直徑范圍為2mm到50mm,厚度范圍為0.1mm到5mm.當(dāng)然我們也可以提供其他各種形狀和大小的閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器, 閃爍晶體，包括：棱鏡型/球形或薄片型，并提供當(dāng)面拋光，雙面拋光和多面拋光。并提供鋁、鋯或氧化銦錫的窗口等多種選擇。
這些閃爍體探測(cè)器和閃爍晶體可用于電子、X射線、伽瑪射線、UV和EUV的探測(cè)。
閃爍探測(cè)器我們提供的閃爍探測(cè)器,閃爍體探測(cè)器,閃爍晶體由YAG:Ce, LuAG:Ce和YAP:Ce閃爍晶體材料構(gòu)成。目前提供如下三種選擇：
*標(biāo)準(zhǔn)的閃爍晶體：直徑可達(dá)50mm,厚度0.5-0.1mm.用于：X射線、電子、UV和EUV的成像。
*帶襯底閃爍體探測(cè)器：超薄YAG:Ce屏厚度可小到為0.005mm，耦合到光纖光學(xué)、玻璃、石英等襯底上使用。可用的規(guī)格是：厚度為0.010mm直徑為40mm, 厚度為0.005mm直徑為25mm.
*獨(dú)立薄YAG:Ce閃爍探測(cè)器: 這種超薄成像屏是獨(dú)立使用的閃爍屏，不需要耦合到襯底上。目前可用的規(guī)格如下：
YAG:Ce閃爍晶體：厚度0.050mm的屏直徑是50mm,厚度為0.025mm的閃爍屏的資金是10mm;
YAP:C閃爍體探測(cè)器：厚度0.1mm的屏直徑是50mm, 厚度為0.050mm的屏的直徑是10mm.
這種獨(dú)立使用的閃爍探測(cè)器非常脆，極易損壞，為此，我們?yōu)槟峁┝艘环N剛玉外殼用于保護(hù)閃爍晶體，或者提供陶瓷或鋼鐵外殼保護(hù)的閃爍體探測(cè)器。
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