這款手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀是高性價(jià)比手動(dòng)橢偏儀,它采用手動(dòng)改變測(cè)角計(jì)入射角技術(shù),相比于自動(dòng)改變?nèi)肷浣堑淖詣?dòng)光譜橢偏儀價(jià)格更低。
橢圓偏振技術(shù)是通過(guò)研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測(cè)量技術(shù)。
與反射計(jì)或反射光譜技術(shù)不同的是，光譜橢偏儀參數(shù)Psi 和Del并非在常見入射角下獲得。通過(guò)改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù)，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測(cè)量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏儀功能遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于固定角橢偏儀。
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀特色
易于安裝，拆卸和維護(hù)
*的光學(xué)設(shè)計(jì)
自動(dòng)改變?nèi)肷浣牵肷浣欠直媛矢哌_(dá)0.01度
高功率光源適合多種應(yīng)用
采用陣列探測(cè)器確保高速測(cè)量
測(cè)量薄膜膜堆的薄膜厚度和折射率
可用于實(shí)或在線監(jiān)測(cè)薄膜厚度和折射率
具有齊全的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)
提供工程師模式，服務(wù)模式和用戶模式三種使用模式
靈活的工程師模式用于各種安裝設(shè)置和光學(xué)模型測(cè)量
一鍵快速測(cè)量
全自動(dòng)標(biāo)定和初始化
精密樣品準(zhǔn)直界面直接樣品準(zhǔn)直，不需要額外光學(xué)
精密高度和傾斜調(diào)整
適合不同材料和不同后的樣品襯底基片
2D和3D數(shù)據(jù)顯示輸出
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：400-1100nm
波長(zhǎng)分辨率：1nm
測(cè)量點(diǎn)大小：1-5mm可調(diào)
入射角：0-90度可調(diào)
入射角分辨率：5度
可測(cè)樣品大?。焊哌_(dá)200mm 直徑或150x 150mm
可測(cè)樣品厚度：高達(dá)20mm
測(cè)量薄膜厚度：5nm ---30um
測(cè)量時(shí)間：~1s/點(diǎn)
精度：~0.25%
重復(fù)精度：<1A
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀可選配件
反射或透射光度測(cè)量配件
微點(diǎn)測(cè)量小面積
X-Y位移臺(tái)用于厚度繪圖
加熱臺(tái)/制冷臺(tái)用于薄膜動(dòng)力學(xué)研究
垂直樣品安裝測(cè)角計(jì)
波長(zhǎng)拓寬到IR范圍
掃描單色儀配置
橢圓偏振技術(shù)是通過(guò)研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測(cè)量技術(shù)。
與反射計(jì)或反射光譜技術(shù)不同的是，光譜橢偏儀參數(shù)Psi 和Del并非在常見入射角下獲得。通過(guò)改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù)，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測(cè)量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏儀功能遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于固定角橢偏儀。
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀特色
易于安裝，拆卸和維護(hù)
*的光學(xué)設(shè)計(jì)
自動(dòng)改變?nèi)肷浣牵肷浣欠直媛矢哌_(dá)0.01度
高功率光源適合多種應(yīng)用
采用陣列探測(cè)器確保高速測(cè)量
測(cè)量薄膜膜堆的薄膜厚度和折射率
可用于實(shí)或在線監(jiān)測(cè)薄膜厚度和折射率
具有齊全的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)
提供工程師模式，服務(wù)模式和用戶模式三種使用模式
靈活的工程師模式用于各種安裝設(shè)置和光學(xué)模型測(cè)量
一鍵快速測(cè)量
全自動(dòng)標(biāo)定和初始化
精密樣品準(zhǔn)直界面直接樣品準(zhǔn)直，不需要額外光學(xué)
精密高度和傾斜調(diào)整
適合不同材料和不同后的樣品襯底基片
2D和3D數(shù)據(jù)顯示輸出
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀參數(shù)
波長(zhǎng)范圍：400-1100nm
波長(zhǎng)分辨率：1nm
測(cè)量點(diǎn)大小：1-5mm可調(diào)
入射角：0-90度可調(diào)
入射角分辨率：5度
可測(cè)樣品大?。焊哌_(dá)200mm 直徑或150x 150mm
可測(cè)樣品厚度：高達(dá)20mm
測(cè)量薄膜厚度：5nm ---30um
測(cè)量時(shí)間：~1s/點(diǎn)
精度：~0.25%
重復(fù)精度：<1A
手動(dòng)低價(jià)光譜橢偏儀可選配件
反射或透射光度測(cè)量配件
微點(diǎn)測(cè)量小面積
X-Y位移臺(tái)用于厚度繪圖
加熱臺(tái)/制冷臺(tái)用于薄膜動(dòng)力學(xué)研究
垂直樣品安裝測(cè)角計(jì)
波長(zhǎng)拓寬到IR范圍
掃描單色儀配置
