RMG4015裂紋測(cè)深儀 儀器特點(diǎn) 新型的德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀可測(cè)量鐵質(zhì)材料、奧氏體鋼工件，同時(shí)可用于銅、黃銅、鋁和其它非鐵質(zhì)材料。它按照電位探頭原理操作：一個(gè)帶有四個(gè)彈簧式、鍍金觸針的探頭橫跨于工件裂紋處檢測(cè)。持續(xù)的交流電經(jīng)兩個(gè)探針進(jìn)入工件；另外兩個(gè)探頭測(cè)量電流通過(guò)裂紋底部后電壓的下降值。儀器的交流電利用趨膚效應(yīng)，即電流在導(dǎo)體表面流動(dòng)，因此也就是沿著裂紋的輪廓。操作和測(cè)量值信息是由測(cè)量?jī)x的微處理器控制，*避免了由于錯(cuò)誤的、未*接觸而導(dǎo)致的錯(cuò)誤測(cè)量和誤操作現(xiàn)象出現(xiàn)。 RMG4015裂紋測(cè)深儀 簡(jiǎn)介一 德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀檢測(cè)報(bào)告可通過(guò)RS232 串口線從小型打印機(jī)（可按附件提供）打印，也可使儀器同PC 通信（通過(guò)STATWIN 2002 軟件）。此PC 須使用Windows 操作系統(tǒng)，這樣不僅可以獲得測(cè)量值，而且可提供數(shù)據(jù)管理和圖表顯示。此外，也可新建檢測(cè)報(bào)告或其他文件。 RMG4015裂紋測(cè)深儀 簡(jiǎn)介二 兩個(gè)電極 Sl 和 S2 產(chǎn)生持續(xù)電流穿過(guò)工件。測(cè)量另兩個(gè)電極Ml 和 M2 之間的電壓值U，其間的電阻值與電壓呈正比。因此，電壓值U 由未知的裂紋深度h，已知的測(cè)量極距離2a，電流極距離2s 和材料的電磁特性決定。如果使用交流電（AC），因趨膚效應(yīng)，電場(chǎng)和電力線就在表面以下區(qū)域通過(guò)。同時(shí)，電流密度增強(qiáng)。下面給出的穿透深度公式是根據(jù)頻率和材料特性得出的。 線形和方形排列的電流（S）和測(cè)量（M） 傳統(tǒng)儀器的不足 裂紋深度h、測(cè)量電壓和頻率之間是非線性的，也是由不同的電磁特性決定的。這由不同的材料決定，傳統(tǒng)的儀器對(duì)此考慮是不充分的。因?yàn)闇y(cè)量電壓特別小（只有幾個(gè)uV），傳統(tǒng)儀器特別容易受干擾的影響。由于電纜線的位置而產(chǎn)生的感應(yīng)電壓對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也是很普遍的。另外，在探頭接觸表面時(shí)，接觸問(wèn)題無(wú)法控制。探頭的磨損可能導(dǎo)致不可預(yù)知的結(jié)果。傳統(tǒng)的三電極探頭測(cè)量和分開(kāi)的電流觸頭會(huì)引起更多的錯(cuò)誤，因?yàn)殡娏饔|頭的距離沒(méi)有被考慮進(jìn)去。 德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀的新探針： KARL DEUTSCH 的新探頭由四個(gè)探針組成。在裂紋測(cè)深方面的40 年經(jīng)驗(yàn)和不斷的發(fā)展使我們有了現(xiàn)在的：DE3828552C2！有一個(gè)直探頭和斜探頭。直探頭是采用方形觸針排列，這樣可以測(cè)量非常小的 線形和方形排列的電流（S）和測(cè)量（M） 德國(guó)KDRMG4015裂紋測(cè)深儀與帶有外部電流觸頭的線形觸頭形狀相比，探針必須置于使裂紋處于測(cè)量和檢測(cè)觸頭中心的位置。這樣，電壓下降路徑可測(cè)量到幾毫米。檢測(cè)和測(cè)量觸頭由彈簧加載、鍍金硬觸尖組成，它保證了的電氣接觸和要求不高的接觸壓力。 不使用工具就可更換觸針：磨損后，從探頭的導(dǎo)向筒中拔出觸針并更換。探頭本身是免維修的。對(duì)粗糙或氧化表面， 自彎曲觸針是的結(jié)果：在壓在表面上時(shí)，它們自動(dòng)調(diào)整坐標(biāo)軸。這樣，窄的，非或弱導(dǎo)電層可被穿過(guò)并安全的接觸到基體。探頭中內(nèi)置電路包含一個(gè)前置放大器。這樣，測(cè)量信號(hào)可以安全傳送給儀器，另外，記憶單元置于探頭內(nèi)部。它存儲(chǔ)獨(dú)立的探頭數(shù)據(jù)和材料特性。 RMG 4015 提供一個(gè)帶有從0mm 到10mm 深度人工裂紋的校準(zhǔn)試塊，這樣用戶可在測(cè)量期間校準(zhǔn)儀器和探頭。探針的磨損或超過(guò)范圍的溫度導(dǎo)致的偏差可通過(guò)再校準(zhǔn)補(bǔ)償。正確的值可以儲(chǔ)存在探頭中。裂紋深度內(nèi)的測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換是由RMG 4015 的微處理器控制的。出廠設(shè)置的校準(zhǔn)表正是出于此目的存儲(chǔ)在儀器中的。測(cè)量之前，將探頭放于工件無(wú)裂紋處，測(cè)量電壓與校準(zhǔn)表中的存儲(chǔ)值相比較。微處理器根據(jù)材料的特殊性來(lái)確定以后測(cè)量裂紋的確切深度。測(cè)量由微處理器監(jiān)控。由于不充分探針的接觸而導(dǎo)致的誤操作、錯(cuò)誤的接觸或探頭的顫動(dòng)是可以避免的。這樣，錯(cuò)誤的結(jié)果幾乎不可能發(fā)生?？梢垣@得的測(cè)量再線性性（+/- 0.1mm 100mm 裂紋深度）。即使是低標(biāo)號(hào)鋼或無(wú)滲透（如奧氏體鋼）或高導(dǎo)電的非鐵性材料（如鋁或銅），都能獲得足夠的精度。 技術(shù)參數(shù)：
