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  • FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng) FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

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  • 型號(hào)FT-351高溫四探針電阻
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新時(shí)間2021-09-02
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 入駐年限1
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量55
  • 人氣值139
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北京中儀萬(wàn)成科技有限公司 中儀萬(wàn)成始于1999年,從事儀器行業(yè)經(jīng)營(yíng),從貿(mào)易經(jīng)營(yíng)發(fā)展轉(zhuǎn)型至今,為生產(chǎn),研發(fā)和服務(wù)一體化之實(shí)體企業(yè),我們致力于解決方案的提供來(lái)滿足各類需求; 經(jīng)過(guò)多年發(fā)展,公司旗下設(shè)四個(gè)事業(yè)部制:粉體和顆粒測(cè)試儀器事業(yè)部;材料電性能測(cè)試儀器事業(yè)部;材料物理和化學(xué)性能事業(yè)部;儀器租賃服務(wù)事業(yè)部和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試服務(wù)事業(yè)部;服務(wù)于化工、石油、醫(yī)藥、制藥、涂料、電池材料、陶瓷、非金屬粉末材料、金屬氧化物粉末、分子材料、冶金、塑膠、建筑材料、土壤、染料、磨料、食品添加劑、催化劑等相關(guān)行業(yè),為生產(chǎn)加工企業(yè)、科研單位和大專院校提供完善的解決方案及技術(shù)資訊服務(wù). 中儀萬(wàn)成通過(guò)深耕技術(shù)水平和技術(shù)創(chuàng)新,擁有多項(xiàng)技術(shù)和自主知識(shí)產(chǎn)權(quán),堅(jiān)持人才培養(yǎng)與企業(yè)成長(zhǎng)計(jì)劃相結(jié)合,: 公司宗旨: 中儀萬(wàn)成的宗旨就是:服務(wù)制勝,客戶至上,為客戶提供的設(shè)備,的服務(wù)。公司理念: 中儀萬(wàn)成的理念是: 要養(yǎng)成把成功所必需的東西堅(jiān)持下來(lái)的習(xí)慣。優(yōu)秀是一種習(xí)慣,習(xí)慣的力量是無(wú)窮的。能夠改變自己的,是有效地改變習(xí)慣,是把優(yōu)秀養(yǎng)成一種習(xí)慣。主營(yíng)產(chǎn)品:四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀,粉末電阻率測(cè)試儀,材料電阻率測(cè)試儀,表面和體積電阻率測(cè)試儀,振實(shí)密度測(cè)試儀,表觀密度分析儀,松裝密度測(cè)試儀,壓實(shí)密度測(cè)定儀,自然堆積密度測(cè)試儀,安息角/休止角測(cè)定儀,數(shù)顯電子密度計(jì),固體密度計(jì),液體密度計(jì),橡膠塑料密度計(jì),黃金密度純度K數(shù)測(cè)試儀。
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FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)一、概述:采用由四探針雙電測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置專用的高溫測(cè)試探針治具,滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測(cè)量要求,通過(guò)*的測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具
FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

        FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

一、概述:

采用由四探針雙電測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱結(jié)合配置專用的高溫測(cè)試探針治具,滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的測(cè)量要求,通過(guò)*的測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。

二、適用行業(yè):

廣泛用于:生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

三、功能介紹:液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。

測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試。

四、技術(shù)參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:10-4~2×105Ω/□

2.電阻率范圍:10-5×106cm

3.測(cè)試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:≤0.3%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率

7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10. 溫度: 1200℃可調(diào)節(jié);沖溫值:≤1-3℃;控溫精度:±1°C

11、升溫速度:9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃;功率:3kw.

12、爐膛材料:采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征。

13.專用測(cè)試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)!

14.選購(gòu):電腦和打印機(jī)

FT-351高溫四探針電阻率測(cè)試系統(tǒng)

 

FT-351 high temperature four probe resistivity test system

 

一.概述:overview

 

采用四探針雙電組合測(cè)量方法測(cè)試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置專用的高溫四探針測(cè)試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制,滿足半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求,*的測(cè)控軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

 

Adopt four probe double electric combination test method to test square resistance and resistivity system . Combined with high temperature box for special high temperature four-point probe test probe jig with PC software for data processing and measurement control. Meet the test requirements of  the conductivity of the semiconductor material to temperature change. Advanced measurement and control software to Real-time render the change curve of  temperature and resistance, the resistivity, the electrical conductivity data,and process data values statement analysis.

 

二.適用行業(yè):Applicable industry:

 

廣泛用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).

 

Is widely used in: Corporate. colleges and universities and scientific research departments of conductive ceramics. silicon. germanium single crystal (bar. wafer) resistivity. The determination of silicon epitaxial layer and diffusion layer and ion implantation of square resistance as well as the measurement of conductive glass (ITO) and other new materials such as conductive films square resistance and resistivity and conductivity data.

 

雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

 

The double electric four-point probe is used to measure the four probes in a straight line.The design conforms to the national standard of the single-crystal silicon physical test method and the American A.S.T.M standard.

 

三.型號(hào)及技術(shù)參數(shù)Models and technical parameters:

 

規(guī)格型號(hào)Models

FT-351A

FT-351B

FT-351C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10-5~2×105Ω/□

10-6~2×105Ω/□

10-4~1×107Ω/□

2.電阻率范圍resistivity range

10-6~2×106Ω-cm

10-7~2×106Ω-cm

10-5~2×108Ω-cm

3.測(cè)試電流范圍test current range

0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100 mA

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

10mA ---200pA

4.電流精度current accuracy

±0.1%讀數(shù)

±0.1讀數(shù)

±2%

5.電阻精度resistance accuracy

≤0.3%

≤0.3%

≤10%

PC軟件界面

PC software interface

顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

LCD: resistance.resistivity. sheet resistance.  temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness

7.測(cè)試方式test mode

雙電測(cè)量Double electrical measurement

8.四探針儀工作電源working power

AC 220V±10%.50Hz  <30W

 

9.整機(jī)不確定性誤差/ machine uncertain errors

≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 standard samples)

≤15%

溫度(選購(gòu))Highest temperature

(choose and buy)

常溫 Normal temperature -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃

氣氛保護(hù)(氣體客戶自備)

Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves)

常用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無(wú)色、無(wú)臭、氣態(tài)的單原子分子

The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules.

溫度精度

Temperature precision

沖溫值 Blunt temperature values:≤1-3℃;控溫精度 control precision:±1°C

升溫速度:

rate of temperature increase

常溫開(kāi)始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘

About 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes

高溫材料

High temperature material

采用復(fù)合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder

PC軟件

PC software

專用測(cè)試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)!One set Special test PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data!

電極材料

Electrode materials

鎢電極或鉬電極

Tungsten electrode or molybdenum electrode

探針間距

The probe spacing

直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter

標(biāo)配外(選購(gòu)):

Except standard configuration (optional)

電腦和打印機(jī)1套;2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè);

1 . One set computer and printer  2.Standard resistance 1 to 5pcs

高溫電源:

High temperature power

供電:400-1200℃ 電源220V,功率4KW;380V;1400℃-1600℃電源380V;功率9KW:

Power supply: 400-1200 ℃ power 220 v. 4 kw power;380 v;1400 ℃ to 1600 ℃  power supply380V ;  power 9KW

 

 

 

 

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