商品詳情
LEPTOSKOP 2042涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法，是的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
可定制帶系統(tǒng)的涂層測(cè)厚
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DINEN ISO 2360）測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言，以滿足客戶的各種需求,是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長(zhǎng)，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
特點(diǎn)概述:
大圖解屏幕48 mm x 24 mm,有背景燈
校準(zhǔn)選項(xiàng)
出廠時(shí)已校準(zhǔn)，立即可用
在未知涂層上校準(zhǔn)
零校準(zhǔn)
在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)
在有涂層的基體上校準(zhǔn)
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中，也可以隨時(shí)調(diào)出
可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測(cè)量任務(wù)
輸入和極限監(jiān)視*
在Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理
可用的電腦軟件STATWIN2002和EasyExport
統(tǒng)計(jì)：
可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
小值、大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計(jì)，所有統(tǒng)計(jì)值概括
L
KD公司一直憑借豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，理論知識(shí)和六十多年的專業(yè)訣竅，造就了符合質(zhì)量管理保證體系的*的儀器和附件。未來，KD會(huì)研發(fā)出更高品質(zhì)，更可靠和更經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，滿足客戶的需求。
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示值顯示不穩(wěn)定？
導(dǎo)致涂鍍測(cè)厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測(cè)厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測(cè)厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過大、表面附著物太多。排除故障的要點(diǎn)就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測(cè)厚儀。
測(cè)量結(jié)果誤差太多？
引起涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量誤差大的原因我們?cè)谝郧暗奈恼轮幸呀?jīng)介紹很清楚了，這里我們?cè)诤?jiǎn)單介紹一下引起測(cè)量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場(chǎng)干擾探頭的放置方法等。
不顯示數(shù)字？
造成涂鍍層測(cè)厚儀不顯示數(shù)字的簡(jiǎn)單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測(cè)量還是不顯示數(shù)值。
商品參數(shù)
LEPTOSKOP 2042 涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：
