商品詳情
LEXT OLS4100激光掃描顯微鏡 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
奧林巴斯 3D 測(cè)量激光顯微鏡廣泛應(yīng)用于不同行業(yè)的質(zhì)量控制、研究和開(kāi)發(fā)過(guò)程，它在激光顯微領(lǐng)域樹(shù)立了全新的標(biāo)準(zhǔn)?，F(xiàn)在，為滿足測(cè)量精度不斷提高和測(cè)量范圍日益擴(kuò)大的需求，奧林巴斯推出了新型產(chǎn)品 LEXT OLS4100。該產(chǎn)品不但可以讓測(cè)量更加快速、簡(jiǎn)單，而且可以拍攝到更高畫(huà)質(zhì)的影像，大大突破了激光顯微鏡的界限。全新的 OLYMPUS LEXT OLS4100。突破“可能”的界限。
LEXT OLS4100激光掃描顯微鏡 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
| 非接觸式、無(wú)損測(cè)量 激光掃描顯微鏡（LSM）采用的是低功率激光，不接觸樣品。因此，不像基于探針系統(tǒng)的接觸式表面粗糙度儀那樣存在損壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)。 |
| 的 XY 測(cè)量 在 XY 平面精確測(cè)量亞微米級(jí)的距離 干涉儀是基于普通白光的光學(xué)顯微鏡，它的平面分辨率不高。而 LSM 通過(guò)采用更大數(shù)值孔徑的物鏡，和更小波長(zhǎng)的光波，極大地提高了平面分辨率。并且通過(guò)高精度的激光控制技術(shù)，獲得更為精確的樣品表面形貌。根據(jù)拍攝到的圖像，LSM可以進(jìn)行非常精確的 XY 平面亞微 米測(cè)量。LEXT OLS4100 達(dá)到了0.12 μm 的平面分辨率。 |
無(wú)需前期準(zhǔn)備即可成像 掃描電子顯微鏡（SEM）在觀察之前需要進(jìn)行前期的樣品準(zhǔn)備，如真空脫水和（或）切片處理使之適合樣品室。而 LSM 則無(wú)需前期的樣品準(zhǔn)備即可對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量。而且，將樣品放置在載物臺(tái)上之后，即可直接開(kāi)始成像。
更大的樣品范圍-輕松檢測(cè) 85° 尖銳角
采用了有著高 N.A. 的專用物鏡和專用光學(xué)系統(tǒng)（能大限度發(fā)揮 405 nm 激光性能），LEXT OLS4100 可以精確地測(cè)量一直以來(lái)無(wú)法測(cè)量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測(cè)量。
高度分辨率 10 nm，輕松測(cè)量微小輪廓
由于采用 405 nm 的短波長(zhǎng)激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡，OLS4100 達(dá)到了 0.12 μm 的平面分辨率。因此，可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行亞微米的測(cè)量。結(jié)合高精度的 0.8 nm 的光柵讀取能力和軟件算法，
克服反射率的差異
OLS4100 采用了雙共焦系統(tǒng)，結(jié)合高靈敏度的探測(cè)器，那些具有不同反射率材料的樣品， 也能在OLS4100上獲得鮮明的影像。
觀察／測(cè)量透明材料的各個(gè)層
多層模式可實(shí)現(xiàn)對(duì)透明樣品的頂部的透明層進(jìn)行觀察和測(cè)量。即使在玻璃基片上覆有一層透明樹(shù)脂層，也可測(cè)量出各層的形狀和 粗糙度以及表面覆膜的厚度。
適用于透明層-多層模式
LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識(shí)別多層樣品各層上反射光強(qiáng)度的峰值區(qū)域，并將各層設(shè)為焦點(diǎn)，這樣即可實(shí)現(xiàn)對(duì)透明樣品上表面的觀察和測(cè)量，而且也可以對(duì)多層樣品的各層進(jìn)行分析和厚度測(cè)量。
| 工業(yè)領(lǐng)域* 的兩項(xiàng)性能保證 通常表示測(cè)量?jī)x器的測(cè)量精度的，有2 個(gè)指標(biāo)："正確性"，即測(cè)量值與真正值的接近程度，和"重復(fù)性"，即多次測(cè)量值的偏差程度。OLS4100 是業(yè)界同時(shí)保證了"正確性"和"重復(fù)性"的激光掃描顯微鏡。 |
更多的測(cè)量類型-7 種測(cè)量模式
更精準(zhǔn)的粗糙度測(cè)量 作為表面粗糙度測(cè)量的新標(biāo)準(zhǔn)，奧林巴斯開(kāi)發(fā)了 LEXT OLS4100。對(duì)LEXT OLS4100 進(jìn)行了與接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x同樣的校正，并在 LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數(shù)和濾鏡。這樣，對(duì)于使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x的用戶來(lái)說(shuō)，能得到操作性和互換性良好的輸出結(jié)果。另外，還搭載了粗糙度專用模式，可以用自動(dòng)拼接功能測(cè)量樣品表面直線距離長(zhǎng)為 100 mm 的粗糙度。
? 微細(xì)粗糙度 使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，無(wú)法測(cè)量比探針的針尖直徑更細(xì)微的表面輪廓。而 OLS4100 有著微小的激光光斑直徑，所 以能夠?qū)ξ⒓?xì)形狀進(jìn)行高分辨率的粗糙度測(cè)量。 |
? 非接觸式測(cè)量 使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x測(cè)量柔軟的樣品時(shí)，樣品容易受到探針損傷而變形。另外，帶有粘性的樣品會(huì)粘在探針上，無(wú)法得到正確的測(cè)量結(jié)果。而非接觸式的激光顯微鏡 OLS4100，不會(huì)影響樣品的表面狀態(tài)，可以準(zhǔn)確的測(cè)量樣品的表面粗糙度。
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? 微米級(jí)特征的測(cè)量 使用接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，其探針無(wú)法進(jìn)入微米級(jí)的區(qū)域，所以不能對(duì)這些區(qū)域的特征進(jìn)行測(cè)量。而OLS4100 可以正確定位，能輕松測(cè)量出特定微小區(qū)域的粗糙度。
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簡(jiǎn)易的三步流程
使用LEXT OLS4100，只需將樣品放置在載物臺(tái)上之后即可立即開(kāi)始觀察／測(cè)量。由于采用了簡(jiǎn)易的三步流程——成像、測(cè)量和報(bào)表——即使用戶不熟悉激光顯微鏡，也可以快速掌握測(cè)量的流程。
快速的宏觀圖拼接
掃描大面積區(qū)域時(shí)有兩種拼接方法可用 ：獲取實(shí)時(shí)影像時(shí) 的手動(dòng)模式和快速獲取影像時(shí)的自動(dòng)模式。操作非?？焖?簡(jiǎn)單——2D 拼接只需一鍵操作即可開(kāi)始，并且可立即獲得 大面積的拼接影像。自動(dòng)模式下有五級(jí)拼接尺寸可用，分 別為 ：3×3、5×5、7×7、9×9 和 21×21。對(duì)于影像上不 需要的部分，可以使用簡(jiǎn)單的鼠標(biāo)或控制桿操作手動(dòng)刪除。
用于簡(jiǎn)易3D 成像的智能掃描
自動(dòng)3D影像獲取
傳統(tǒng)的3D 掃描需要復(fù)雜的設(shè)置，這對(duì)新手來(lái)說(shuō)非常困難。LEXT OLS4100 采用了全新的智能掃描模式，即使是初次使用的用戶也只需一鍵操作即可快速獲取3D 影像。除了上下限的設(shè)置，系統(tǒng)也會(huì)根據(jù)要獲取的影像自動(dòng)設(shè)置合適的亮度。這讓即使是初次使用的用戶也能獲得精確的高度測(cè)量和優(yōu)質(zhì)的影像。
更快的掃描速度
新的超快模式獲取掃描影像的速度是傳統(tǒng)快速模式的2 倍，約是精細(xì)模式的9 倍。因此，對(duì)于那些需要非常精細(xì)的Z 軸移動(dòng)和*的放大倍率的樣品，該模式就非常地適用，例如對(duì)刀具的進(jìn)行檢測(cè)。
全新的高速拼接模式
從大范圍拼接影像中目標(biāo)區(qū)域
在宏觀圖中，要觀察的區(qū)域可以從大范圍的視圖中在自動(dòng)模式中，通過(guò)設(shè)置多625 幅影像的矩形拼接尺寸，可以自動(dòng)生成區(qū)域圖，所需的時(shí)間大約只需要通常的一半。下一步，在區(qū)域圖上所需的影像并立即開(kāi)始觀察。
手動(dòng)所需的影像區(qū)域
在實(shí)時(shí)模式中，通過(guò)在屏幕上跟蹤所需的區(qū)域，可以手動(dòng)選擇要觀察的區(qū)域。當(dāng)觀察的樣品具有不規(guī)則的形狀時(shí)，該功能非常實(shí)用。
快速影像拼接
要使用智能掃描模式獲取影像時(shí)，只需一鍵操作即可。由于智能掃描會(huì)自動(dòng)調(diào)整Z 軸方向的設(shè)置，Z 軸方向的影像獲取可以僅局限在所需的區(qū)域，因此可以在進(jìn)行大范圍大功率觀察時(shí)節(jié)省很多時(shí)間。
一鍵操作定制報(bào)表
創(chuàng)建報(bào)表
OLS4100 在測(cè)量后可使用一鍵操作創(chuàng)建報(bào)表，而且使用編輯功能可以定制各個(gè)報(bào)表模板。將測(cè)量結(jié)果復(fù)制和粘貼到Word 或表格應(yīng)用程序也非常簡(jiǎn)單，就像從數(shù)據(jù)庫(kù)取回所需的影像和報(bào)表一樣。
目標(biāo)的一鍵解決方案
向?qū)Чδ?/span>
為用戶設(shè)計(jì)的詳細(xì)的向?qū)Чδ苋∠巳唛L(zhǎng)的培訓(xùn)，讓新手也能快速簡(jiǎn)單地進(jìn)行操作。
商品參數(shù)
主機(jī) | |||
LSM 部分 | 光源、檢出系統(tǒng) | 光源：405 nm 半導(dǎo)體激光 檢出系統(tǒng)：光電倍增管 | |
總倍率 | 108x ～ 17,280x | ||
變焦 | 光學(xué)變焦1x ～ 8x | ||
測(cè)量 | 平面測(cè)量 | 重復(fù)性 | 00x: 3σn-1=0.02 µm |
正確性 | 測(cè)量值的±2%以內(nèi) | ||
高度測(cè)量 | 方式 | 物鏡轉(zhuǎn)換器上下驅(qū)動(dòng)方式 | |
行程 | 10 mm | ||
內(nèi)置比例尺 | 0.8 nm | ||
移動(dòng)分辨率 | 10 nm | ||
顯示分辨率 | 1 nm | ||
重復(fù)性 | 50x: σn-1=0.012 μm | ||
正確性 | 0.2 ＋ L/100 μm 以下（L＝測(cè)量長(zhǎng)度μm） | ||
彩色觀察部分 | 光源、檢查系統(tǒng) | 光源：白色LED， 檢查系統(tǒng)：1/1.8 英寸200 萬(wàn)像素單片CCD | |
變焦 | 數(shù)碼變焦1x ～ 8x | ||
物鏡轉(zhuǎn)換器 | 6 孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器 | ||
微分干涉單元 | 微分干涉滑片：U-DICR， 內(nèi)置偏振光片單元 | ||
物鏡 | 明視場(chǎng)平面半消色差透鏡5x、10x LEXT 專用平面復(fù)消色差透鏡20x、50x、100x | ||
Z 對(duì)焦部分行程 | 100 mm | ||
XY 載物臺(tái) | 100×100 mm（電動(dòng)載物臺(tái)）， 選件: 300×300 mm（電動(dòng)載物臺(tái)） | ||
此設(shè)備為專為在工業(yè)環(huán)境下實(shí)施檢測(cè)設(shè)計(jì)的A 類設(shè)備。如在住宅區(qū)內(nèi)使用可能會(huì)干擾其他設(shè)備。
物鏡 | ||||
型號(hào) | 倍率 | 視場(chǎng) | 工作距離（WD） | 數(shù)值孔徑（N/A） |
MPLFLN5X | 108x-864x | 2,560-320 μm | 20.0 mm | 0.15 |
MPLFLN10X | 216x-1,728x | 1,280-160 μm | 11.0 mm | 0.30 |
MPLAPON20XLEXT | 432x-3,456x | 640-80 μm | 1.0 mm | 0.60 |
MPLAPON50XLEXT | 1,080x-8,640x | 256-32 μm | 0.35 mm | 0.95 |
MPLAPON100XLEXT | 2,160x-17,280x | 128-16 μm | 0.35 mm | 0.95 |
應(yīng)用實(shí)例
基本原理
OLS4100 的基本原理
405nm激光掃描 光學(xué)顯微鏡的水平分辨率很大程度上取決于所用光的光子和波長(zhǎng)。采用短波長(zhǎng)的激光掃描顯微鏡（LSM）比采用可見(jiàn)光（550 nm 峰值）的傳統(tǒng)顯微鏡，擁有更高的水平分辨率。LEXT OLS4100 所使用的是 405 nm 的短波長(zhǎng)半導(dǎo)體激光，因此具有優(yōu)秀的平面分辨率。
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2D 掃描系統(tǒng) OLS4100 配有奧林巴斯的掃描加掃描型 2D 掃描儀，電磁 MEMS 掃描負(fù)責(zé) X 方向，Galvano 振鏡負(fù)責(zé) Y 方向。該創(chuàng)新型系統(tǒng)使得掃描儀的軸 和物鏡瞳鏡處于共軛位置，這是一個(gè)理想的光學(xué)布局，該系統(tǒng)可以進(jìn)行高速、低變形的高精度 XY 掃描，使得 OLS4100 可以實(shí)現(xiàn)高達(dá) 4096×4096 像素的高精度掃描。 共焦光學(xué)系統(tǒng) 共焦光學(xué)系統(tǒng)有兩種*效果 ：去除模糊影像中的光斑、抽取同一高度平面。光斑的去除提升了 XY 的分辨率，加上只抽取同 一高度平面的功能，因此共焦光學(xué)系統(tǒng)也作為高度傳感器來(lái)應(yīng)用。OLS4100 配有奧林巴斯雙共焦系統(tǒng)，即使具有不同反射率 的樣品，也可以獲得非常清晰的影像。針孔產(chǎn)生共焦效果，使得各個(gè)方向都擁有較佳的對(duì)比度。 CFO 檢索 檢測(cè)高度信息是 OLS4100 的一項(xiàng)基本功能。通過(guò)在 Z 軸方向上移動(dòng)物鏡，檢測(cè)出光強(qiáng)度變化來(lái)獲取高度信息。奧林巴斯的 CFO 技術(shù)可以自動(dòng)檢測(cè)光強(qiáng)度以獲取不連續(xù)的數(shù)據(jù)，獲得理想 I-Z 曲線，從而計(jì)算出大亮度值和相應(yīng)的 Z 軸信息，用于確定影像的像素。CFO 技術(shù)可以獲得高重復(fù)性的數(shù)據(jù)。
OLS4100 光路圖
高畫(huà)質(zhì)影像
清晰鮮明的 3D 彩色影像
三種類型的綜合影像
LEXT OLS4100 可以同時(shí)獲取三種不同類型的影像信息 ：真彩3D影像、激光全焦點(diǎn)3D 影像和高度信息影像。
再現(xiàn)自然色
OLS4100 采用了白色的 LED 光源和高色彩保真度的 CCD 照相裝置以生成清晰、色彩自然的影像，所得影像可以與高級(jí)的光 學(xué)顯微鏡相媲美。
更加真實(shí)地再現(xiàn)表面
激光DIC（激光微分干涉）
微分干涉觀察是超越了激光顯微鏡的分辨率、可以觀察到納米以下微小表面輪廓的觀察方法。LEXT OLS4100 通過(guò)安裝在物鏡上方的DIC 分光棱鏡，將照明光橫向分為兩束光線來(lái)照射樣品。獲取由樣品直接反射回來(lái)的兩束光線的差，生成明暗對(duì)比，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)微小凹凸的立體觀察。LEXTOLS4100 擁有DIC 激光模式，即使是低倍率的動(dòng)態(tài)觀察，也能得到接近電子顯微鏡分辨率的影像。
亮度和對(duì)比度之間更加優(yōu)化的平衡
HDR（高動(dòng)態(tài)范圍）影像
OLS4100 的高動(dòng)態(tài)范圍（HDR）功能結(jié)合了多張以不同曝光率獲取的光學(xué)顯微鏡影像，并且分別控制著亮度、對(duì)比度、紋理和飽和度，因此HDR 可以以寬動(dòng)態(tài)范圍處理影像。OLS4100 尤其可以對(duì)紋理不明顯的樣品的彩色影像進(jìn)行清晰地觀察。
廠家介紹
● 奧林巴斯（中國(guó)）有限公司是一家主營(yíng)工業(yè)、醫(yī)療和消費(fèi)者市場(chǎng)的國(guó)際公司，專業(yè)進(jìn)行光學(xué)、電子學(xué)和精密性工程研究。
● 有關(guān)奧林巴斯公司的財(cái)政、投資商關(guān)系、公司簡(jiǎn)介和公司歷史等信息，請(qǐng)?jiān)L問(wèn)奧林巴斯業(yè)務(wù)信息網(wǎng)站。
● 該網(wǎng)站涵蓋了各種工業(yè)技術(shù)的投資信息，包括創(chuàng)新型檢測(cè)、測(cè)量和影像設(shè)備的投資信息。各種*的檢測(cè)技術(shù)，包括：內(nèi)窺檢測(cè)技術(shù)（RVI）、顯微鏡技術(shù)（IE）、超聲波技術(shù)（UT）、相控陣技術(shù)（PA）、渦流技術(shù)（EC）、渦流陣列技術(shù)（ECA）、X射線熒光技術(shù)（XRF）和光學(xué)測(cè)量技術(shù)。我們的產(chǎn)品包括超聲波探傷儀、測(cè)厚儀、內(nèi)窺鏡、管道鏡、顯微鏡、*的在線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)、XRF和XRD分析儀、干涉儀，并有各種工業(yè)掃描儀、探頭、軟件程序和設(shè)備附件可供選擇。
● 我們的宗旨是為的消費(fèi)者提供可靠、經(jīng)濟(jì)的系統(tǒng)。為此，我們加強(qiáng)了系統(tǒng)的安全性和質(zhì)量，保證了消費(fèi)者的生產(chǎn)力，從而為社會(huì)作出貢獻(xiàn)。我們一直積極開(kāi)發(fā)新技術(shù)、新產(chǎn)品和新服務(wù)，保證始終用杰出的方案滿足消費(fèi)者的需求。因?yàn)楫a(chǎn)品的質(zhì)量直接關(guān)系到我們對(duì)消費(fèi)者的責(zé)任，因此在進(jìn)行高質(zhì)量的產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)，我們始終遵守高的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)章，以確保產(chǎn)品對(duì)公眾的安全。
