Ｔ Ｙ-9000型全譜直讀光譜儀
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應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、鑄造、機(jī)械、科研、商檢、汽車、石化、造船、電力、航空、核電、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析。
檢測(cè)基體：鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基。
技術(shù)特點(diǎn)：
1、光學(xué)系統(tǒng)：
《1》光學(xué)系統(tǒng)激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光學(xué)室，實(shí)現(xiàn)光路直通，降低光路損耗；
《2》光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)及采用光學(xué)元件可zhun確測(cè)定非金屬元素中C、P、S、N以及其他元素含量；
《3》測(cè)定結(jié)果zhun確
2、自動(dòng)光路校準(zhǔn)：
《1》自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作；
《2》儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定。
3、單板式透鏡設(shè)計(jì)：
《1》真空光學(xué)系統(tǒng)采用入射窗與真空隔離，可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作，光學(xué)透鏡采用單板式透鏡結(jié)構(gòu)，日常清洗維護(hù)方便快捷。
《2》在日常工作中儀器無(wú)需維護(hù)，也沒(méi)有消耗品及更換零部件。
4、真空室一體化：
《1》*的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使真空室容積小
《2》真空室一體化設(shè)計(jì)及高加工，使真空保持的好。
5、真空防返油技術(shù)：
《1》多級(jí)隔離的真空防返油技術(shù)，采用真空壓緊、擋板閥保證真空泵不工作時(shí)間真空光室與真空*隔離。
《2》中間增加了真空濾油裝置，確保真空泵中油不進(jìn)入真空室，保障CCD檢測(cè)器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作。
6、開放式激發(fā)臺(tái)：
《1》開放式激發(fā)臺(tái)機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計(jì)，以滿足客戶現(xiàn)場(chǎng)的不同形狀大小的樣品分析。
《2》配合使用小樣品夾具，線材分析可達(dá)到1.5mm。
7、噴射電極技術(shù)：
《1》噴射電極技術(shù)，使用鎢材料電極，在激發(fā)狀態(tài)下，電極周圍會(huì)形成氬氣噴射氣流，這樣在激發(fā)過(guò)程中激發(fā)點(diǎn)周圍不會(huì)與外界空氣接觸。
《2》配上氬氣氣路設(shè)計(jì)，降低了氬氣使用量。
8、集成氣路模塊：
《1》激發(fā)臺(tái)采用散熱性能好的材料制作，堅(jiān)固、耐用而且清潔方便。
《2》供氣系統(tǒng)采用集成氣路模塊，電極自吹掃功能，為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境。
9、全數(shù)字化激發(fā)光源：
《1》全數(shù)字激發(fā)光源，等離子激發(fā)光源，穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。
《2》全數(shù)字激發(fā)脈沖，確保激發(fā)樣品等離子體分辨率和穩(wěn)定率輸出。
《3》滿足不同材料的激發(fā)要求。
10、數(shù)據(jù)采集：
《1》儀器采用CCD器件，紫外鍍膜技術(shù)及FPGA、ＤＳＰ及ＡＲＭ處理器。
《2》具有數(shù)據(jù)采集分析功能，并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài)。
11、以太數(shù)據(jù)傳輸：
《1》計(jì)算機(jī)和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議，避免電磁干擾，光纖老化的弊端，同時(shí)計(jì)算機(jī)和打印機(jī)外置，方便升級(jí)和更換。
《2》網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。
《3》可以遠(yuǎn)程監(jiān)控儀器狀態(tài)，多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控儀器參數(shù)。
12、預(yù)制工作曲線：
《1》根據(jù)元素和材質(zhì)對(duì)應(yīng)的分析程序而稍有差異，激發(fā)和測(cè)試參數(shù)儀器出廠時(shí)已經(jīng)調(diào)節(jié)好，根據(jù)分析程序可自動(dòng)選擇理想測(cè)試條件。
13、分析速度：
《1》20秒內(nèi)可測(cè)完通道的元素成分。
《2》針對(duì)不同的分析材料，通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及測(cè)量時(shí)間
14、多基體分析：
《1》光路設(shè)計(jì)采用羅欄園結(jié)構(gòu)，CCD上下交替排列，保證接收全部的譜線，不增加硬件設(shè)施，即可實(shí)現(xiàn)多基體分析。
