頻率范圍:300KHz～1.3GHz S參數(shù)測量
窄帶和寬帶檢測
100dB的動態(tài)范圍
實(shí)時掃描速度(50ms/一次掃描)
50Ω或75Ω系統(tǒng)阻抗
1 Hz分辨率的合成信號源
標(biāo)準(zhǔn)LAN(局域網(wǎng))接口
標(biāo)準(zhǔn)Agilent Instrument BASIC(IBASIC)
可提供標(biāo)準(zhǔn)2,6和12端口轉(zhuǎn)接測試裝置
可選用的邦聯(lián)定位和SRL(結(jié)構(gòu)回波損耗)測量
設(shè)計時考慮了制造的需要
Agilent 8712E系列經(jīng)濟(jì)型射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀以緊湊的集成化儀器形式為大量射頻元件的制造提供快速、高精度和自動化的特征，這類分析儀有助于縮短測試時間、提高生 產(chǎn)率和降低每個元件的總成本。傳輸/反射分析儀（ET）型或S參數(shù)分相反儀（ES型）備選品使您能在性能與成本的關(guān)系上作出選擇，以滿足您的測量需 要。
標(biāo)準(zhǔn)系列的特點(diǎn)
Agilent 8712B/8712C和8714ET的特點(diǎn)是擁有能進(jìn)行一系列幅度和相位測量的內(nèi)置傳輸/反射測試裝置。這兩類分相反儀還利用*的矢量誤差修正技術(shù)來提高測量精度。
Agilent 8712ES和8714ES的特點(diǎn)是擁有能進(jìn)行全面二端口矢量誤差修正的S參數(shù)測試裝置，從而能提供的測量精度。
所有這些分相反儀都能對射頻元件進(jìn)行快速、全面的掃頻和功率掃描表征。此外，還具有下列特點(diǎn)：
以50Ω或75Ω選件形式提供300kHz～1.3或3GHz型號
合成源可以為多種射頻元件的精確測量提供快速、穩(wěn)定、高分辨率（1Hz）的激勵。
功率掃描能對放大器增益壓縮和AM-FM變換進(jìn)行測試
60dB步進(jìn)衰減器（ES型為標(biāo)準(zhǔn)件，ET型為任選件）可以為測試有源器件提供各種各樣的輸出功率電平
窄帶和寬帶檢測
100dB的動態(tài)范圍
實(shí)時掃描速度(50ms/一次掃描)
50Ω或75Ω系統(tǒng)阻抗
1 Hz分辨率的合成信號源
標(biāo)準(zhǔn)LAN(局域網(wǎng))接口
標(biāo)準(zhǔn)Agilent Instrument BASIC(IBASIC)
可提供標(biāo)準(zhǔn)2,6和12端口轉(zhuǎn)接測試裝置
可選用的邦聯(lián)定位和SRL(結(jié)構(gòu)回波損耗)測量
設(shè)計時考慮了制造的需要
Agilent 8712E系列經(jīng)濟(jì)型射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀以緊湊的集成化儀器形式為大量射頻元件的制造提供快速、高精度和自動化的特征，這類分析儀有助于縮短測試時間、提高生 產(chǎn)率和降低每個元件的總成本。傳輸/反射分析儀（ET）型或S參數(shù)分相反儀（ES型）備選品使您能在性能與成本的關(guān)系上作出選擇，以滿足您的測量需 要。
標(biāo)準(zhǔn)系列的特點(diǎn)
Agilent 8712B/8712C和8714ET的特點(diǎn)是擁有能進(jìn)行一系列幅度和相位測量的內(nèi)置傳輸/反射測試裝置。這兩類分相反儀還利用*的矢量誤差修正技術(shù)來提高測量精度。
Agilent 8712ES和8714ES的特點(diǎn)是擁有能進(jìn)行全面二端口矢量誤差修正的S參數(shù)測試裝置，從而能提供的測量精度。
所有這些分相反儀都能對射頻元件進(jìn)行快速、全面的掃頻和功率掃描表征。此外，還具有下列特點(diǎn)：
以50Ω或75Ω選件形式提供300kHz～1.3或3GHz型號
合成源可以為多種射頻元件的精確測量提供快速、穩(wěn)定、高分辨率（1Hz）的激勵。
功率掃描能對放大器增益壓縮和AM-FM變換進(jìn)行測試
60dB步進(jìn)衰減器（ES型為標(biāo)準(zhǔn)件，ET型為任選件）可以為測試有源器件提供各種各樣的輸出功率電平
