產(chǎn)品簡介：

BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理，通過高精度的數(shù)字式電機(jī)控制，是迄今為止具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率的測量儀器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。

詳細(xì)說明：

工作原理

重力或者離心力使得懸浮在樣品轉(zhuǎn)盤腔內(nèi)的顆粒可以產(chǎn)生沉降或離心運(yùn)動(dòng)。大顆粒運(yùn)動(dòng)較快，小顆粒運(yùn)動(dòng)較慢，隨著時(shí)間的增加，大小顆粒自然分級并依次通過靠近轉(zhuǎn)盤腔底內(nèi)部的檢測器，因而具有*的分辯率。

應(yīng)用價(jià)值

1.精確分辨復(fù)雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結(jié)構(gòu)特性的分析

2.通過測量對原料進(jìn)行監(jiān)控，避免由原料帶來的生產(chǎn)問題

3.通過簡化步驟和減少測量時(shí)間來提高效率

4.化材料特性從而提高產(chǎn)品性能

5.研究體系粒度的基本構(gòu)成從而幫助新產(chǎn)品和生產(chǎn)工藝的開發(fā)

典型應(yīng)用

1.PS、PVC及其它聚合物

2.炭黑

3.金屬氧化物、金屬粉末

4.油墨、氧化鋁、氧化鈦

5.制藥、化妝品、食品、粘合劑

6.涂料、無機(jī)染料

7.陶瓷、粘土、礦物

技術(shù)參數(shù)

1.進(jìn)樣方式：均相進(jìn)樣（HOST模式）探頭掃描速度：0.05～10mm/min

2.檢測光源：X射線

3.操作模式：重力沉降模式與離心沉降模式

4.粒度范圍：0.01～100um（與粘度、密度有關(guān)）

5.數(shù)據(jù)庫：無需消光校正

6.精度：2％

7.重復(fù)性：1％

8.旋轉(zhuǎn)盤材料：標(biāo)準(zhǔn)PMMA或特殊抗腐蝕盤

9.電機(jī)轉(zhuǎn)速：500～6000rpm，10000rpm可選

10.轉(zhuǎn)速精度：0.01%