產(chǎn)品概述
科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-54C配有超大移動范圍的載物臺，落射照明器、無限遠(yuǎn)明暗場長距平場物鏡和大視野目鏡的配置。具有外形美觀，圖像清晰度高、操作方便等特點，同時配有暗場裝置及偏光裝置，可實現(xiàn)暗場和偏光觀察，是一款多功能工業(yè)檢測顯微鏡。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、工程學(xué)、電子學(xué)、半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器。總放大倍數(shù)：50X-500X
性能特點：
1、采用了較為*的無限遠(yuǎn)光路設(shè)計，提供了優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)。
2、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置，拓展了功能。
3、系統(tǒng)配置了大尺寸、大范圍移動載物臺，適合大工件的檢查。
4、采用大視野目鏡和明暗場長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
5、整機(jī)采用了防霉處理，保護(hù)了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
典型應(yīng)用：
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗。
2、觀察材料表面的某些特性，
3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
