1.測試數(shù)據(jù)閾值自動判定
2.芯片夾具可定制
3.測試路數(shù)可定制
4.測試數(shù)據(jù)圖形化
5.測試激光器芯片老化
6.測試時間可設(shè)置
產(chǎn)品概述
JW18001—LDM老化測試系統(tǒng),針對激光器芯片,chip, Bar條,裸Die和COC器件的老化過程監(jiān)控。采用系統(tǒng)架構(gòu)及分離夾具進(jìn)行的軟硬件設(shè)計(jì),主機(jī)安裝在標(biāo)準(zhǔn)19英寸機(jī)柜中,分離夾具通過高溫導(dǎo)線與主機(jī)相連,營造出實(shí)時可控的老化環(huán)境。界面操作簡單,數(shù)據(jù)圖形化。設(shè)計(jì)有不同種類的老化測試夾具,適合不同封裝,不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夾具整體放到恒溫測試平臺上完成器件的LIV曲線,光譜和消光比的測試。