DHT系列超低溫試驗箱

　　多禾試驗doaho®歐洲研發(fā)中心推出DHT系列超低溫試驗箱，緊湊的設計，特別適合實驗室，高校，研究所的低溫試驗場所。DHT系列超低溫試驗箱運用DHSPLCON技術將超低溫試驗箱使用壽命大大延長。多禾試驗，成型于歐洲，產銷于國內，對標德國品品質，價格親民。DHT系列試驗箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗+濕度環(huán)境。適用于各類高校，專業(yè)實驗室研究開發(fā)及對空間要求較用。DHT系列試驗箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗環(huán)境，以便在相應環(huán)境條件下進行試驗儲存后對產品性能做出分析及評價。

 　　doaho®超低溫試驗箱產品優(yōu)勢

　　全新設計理念

　　雙層真空大視窗設計，安全防霧，同時配備飛利浦高亮度照明

　　操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設定、顯示各種運行數(shù)，同時控制器位置可隨時根據(jù)實際情況上下調節(jié)，增強使用者舒適度體驗。

　　記錄量大：實時記錄大量采樣數(shù)據(jù)，并可實現(xiàn)在 PC機上打印曲線。

　　高可靠性：為提高整機的可靠性，主要部件經(jīng)嚴格考核，全部由各名專業(yè)廠商提供。

　　安全保護：溫度過升保護，試品保護，設備自身保護，操作人員安全保護等，安全考慮。

　　引進*，意大利*控制系統(tǒng)，性能穩(wěn)定

　　可非標定制

　　升降溫特性

　　doaho®超低溫試驗箱執(zhí)行與滿足標準及試驗方法

　　GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件

　　GB10589-2008 低溫試驗箱技術條件

　　GB10592-2008 高低溫試驗箱技術條件(溫度交變)

　　GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫    IEC 60068-2-1:2007

　　GB/T2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫   IEC 60068-2-2:2007

　　GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化IEC60068-2-14

　　GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 高溫試驗

　　GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分: 低溫試驗

 　doaho®超低溫試驗箱配件清單

　　使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)

　　安全配置：漏電保護、短路保護、壓縮機超壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、超溫保護、相序/缺相保護

　　附件標準配置：

　　照明燈*1

　　直徑50mm引線孔*2；硅膠塞*2

　　AISI304樣品架：2個（100L-1000L）

　　通訊方式： USB（標配）

　　可調節(jié)腳輪：4只

　　doaho®超低溫試驗箱選配清單

　　以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲卡（選配）

　　RS485/232（選配）

   更多產品細節(jié)：

超低溫試驗箱內部結構

超低溫試驗箱警示標志

超低溫試驗箱工作室及相關資料