該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析,在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。
產(chǎn)品名稱(chēng):X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間:30秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg