普申測厚儀
用于測量金屬底材上的干膜厚度。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品 普申磁性測厚儀 普申磁性非磁性測厚儀 訂購編號 PS 2633/1 PS 2634/1 測量原理 電磁式(磁性基底) 電磁式(磁性基底)+ 渦流式(非磁性基底) 自動識別磁性基底和非磁性基底 測量范圍 0-1250μm 0-1250μm 測量精度誤差 單點校準:±(1+3%H) 三點、四點校準:±[(1%+3%H)]H+1.5 單點校準:±(1+3%H) 三點、四點校準:±[(1%+3%H)]H+1.5 最小基體 10mm*10mm 10mm*10mm 最小曲率 凸:5mm 凹:5mm 凸:5mm 凹:5mm 基體 0.4mm 0.4mm