高溫四探針測試儀
一、高溫四探針測試儀器產(chǎn)品簡介
HEST-800高溫四探針測試儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能。采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,配備10英寸觸摸屏,軟件可保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電 流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導 率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高**度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
HEST-800系列采用自主開發(fā)*的電子護系統(tǒng),設(shè)備的安全性;選用進口熱電偶保定溫度的采集有效值、采用*的的SPWM 電子升壓技術(shù),電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。
HEST-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電 流、溫度、時間等設(shè)置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。高精度的輸出與測量規(guī)格,保障檢測結(jié)果的品質(zhì),適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測。例如:多晶硅材料、石墨烯材料、導電功能薄膜材料、半導體材料,也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測試。針探針測試儀做了多項安全設(shè)計,測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全;資料保存機制:當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數(shù)所新開啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。
二、高溫四探針測試儀器適用范圍
多晶硅材料
石墨烯材料
石墨功能材料
半導體材料
導電功能薄膜材料
鍺類功能材料
導電玻璃(ito)材料
柔性透明導電薄膜
其它導電材料等
三、高溫四探針測試儀器產(chǎn)品功能
█ 電壓、電流、溫度實時顯示
█ 自動升壓功能
█ 循環(huán)自動測試
█ 升溫速度可控
█ 自動試驗報表
█ 過壓、過流、超溫報警
█ 軟件自動升級
█ 試驗電壓、電流可調(diào)
█ 電極方便更換
█ 在線設(shè)備診斷
四、高溫四探針測試儀器性能特點
█多功能真空加熱爐,一體爐膛設(shè)計、可實現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進行測試
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度,
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率;
█ 可實現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測量功能;
█ 進口溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度更準確;
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸進口觸摸屏設(shè)計,一體化設(shè)計機械結(jié)構(gòu),更加穩(wěn)定、可靠;
█ 程控電子升壓技術(shù),紋波更低、TVS防護系統(tǒng),保證儀器安
█99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;
█huace pro 強大的控制分析軟件。