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DC超聲波測(cè)厚儀

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  • 更新時(shí)間2022-01-11
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 入駐年限1
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量136
  • 人氣值339
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溫州艾佰測(cè)控科技有限公司,公司成立于2014年,專(zhuān)為用戶(hù)提供簡(jiǎn)單高效優(yōu)質(zhì)便捷的計(jì)量?jī)x器產(chǎn)品。公司主要專(zhuān)業(yè)從事農(nóng)業(yè)、扭力、張力、硬度、拉壓、量?jī)x等精密儀器產(chǎn)品的研究、開(kāi)發(fā)及生產(chǎn)、和OEM/ODM代加工為一體的企業(yè)。公司擁有強(qiáng)大的專(zhuān)業(yè)技術(shù)隊(duì)伍和營(yíng)銷(xiāo)隊(duì)伍,產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定,性?xún)r(jià)比高。生產(chǎn)的各類(lèi)產(chǎn)品不僅能夠替代進(jìn)口同類(lèi)產(chǎn)品,同時(shí)遠(yuǎn)銷(xiāo)歐洲、北美、東亞、南亞和中東各國(guó),在市場(chǎng)上受到廣大用戶(hù)及經(jīng)銷(xiāo)商的歡迎和好評(píng)。用戶(hù)包括:電子電器、電線(xiàn)電纜、五金機(jī)電、航空、電力、電磁機(jī)械、汽車(chē)配件、動(dòng)力機(jī)械、科研機(jī)構(gòu)、粘膠化工、煤炭、建筑門(mén)窗、家具、塑膠塑編、彈簧制造、醫(yī)療器械、消防器材、電梯、印刷包裝、打火機(jī)及點(diǎn)火裝置、紡織、拉鏈紐扣、鎖具、筆業(yè)、剃須刀業(yè)、漁具、自動(dòng)化設(shè)備測(cè)量系統(tǒng)等行業(yè)。 溫州艾佰測(cè)控科技有限公司堅(jiān)持以持續(xù)技術(shù)創(chuàng)新為客戶(hù)不斷創(chuàng)造財(cái)富價(jià)值,憑借不斷增強(qiáng)的創(chuàng)新能力、突出的產(chǎn)品定制能力、日趨完善的售后服務(wù)能力贏得廣大客戶(hù)的信任與合作。
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1概述本儀器是智能型超聲波測(cè)厚儀,采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量
DC超聲波測(cè)厚儀 產(chǎn)品詳情

1 概述

本儀器是智能型超聲波測(cè)厚儀,采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測(cè)量原理,可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量??梢詫?duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè),監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作精確測(cè)量。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

1.1技術(shù)參數(shù):

項(xiàng)目單位性能指標(biāo)和功能
顯示方法 高對(duì)比度的128*64液晶顯示,高亮度EL背光;
測(cè)量范圍mm0.75 ~ 600.0(鋼)
材料聲速m/s1000 ~ 9999
分辨力mm0.01
示值精度誤差mm測(cè)量范圍 0.75 ~ 3.3時(shí),分辨力0.01,允許誤差±0.05測(cè)量范圍3.3 ~ 99.99時(shí),分辨力0.01,允許誤差±(1‰H+0.04)測(cè)量范圍100.0 ~ 300.0時(shí),分辨力0.01,允許誤差±3‰H測(cè)量范圍300.0 ~ 600.0時(shí),分辨力0.01,允許誤差±5‰H注:H為測(cè)量的厚度
測(cè)量周期 單點(diǎn)測(cè)量時(shí)每秒鐘6次;
校正模式 配機(jī)試塊4mm自動(dòng)校正 /用戶(hù)自定義校正(單點(diǎn)校正 /雙點(diǎn)校正)
測(cè)量功能 最小讀數(shù)俘獲、平均測(cè)量、設(shè)限測(cè)量、差值測(cè)量 等軟件功能可選
測(cè)量模式 R-B1(發(fā)射脈沖至一次回波)
動(dòng)態(tài)測(cè)聲速功能 可利用輸入已知厚度,動(dòng)態(tài)掃查測(cè)讀被測(cè)工件的聲速
智能電源功能 開(kāi)機(jī)閑置一段時(shí)間后,儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)電池低壓指示
蜂鳴器 校準(zhǔn)提示、超限提示
存儲(chǔ) 40組測(cè)厚數(shù)據(jù)(僅測(cè)量值,聲速值)40組參數(shù)數(shù)據(jù)集(包括測(cè)量值、儀器設(shè)置等參數(shù))
語(yǔ)言 中文/英文 可選
單位制式 公制(mm)/英制(inch)可選
工作時(shí)間h≥30
供電模式 二節(jié)5號(hào)電池
工作溫度-10 ~ 40
重量g約245g(含電池)
尺寸mm145mm×74mm×32 mm(高×寬×厚)

1.2 主要功能

適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度;

可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用;

已知厚度可以反測(cè)聲速,以提高測(cè)量精度;

具有耦合狀態(tài)提示功能;

有EL背光顯示,方便在光線(xiàn)昏暗環(huán)境中使用;

有剩余電量指示功能,可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量;

具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能;

小巧、便攜、可靠性高,適用于惡劣的操作環(huán)境,抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾;

1.3 工作原理

本超聲波測(cè)厚儀對(duì)厚度的測(cè)量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過(guò)耦合劑到達(dá)被測(cè)體,一部分超聲信號(hào)被物體底面反射,探頭接收由被測(cè)體底面反射的回波,精確地計(jì)算超聲波的往返時(shí)間,并按下式計(jì)算厚度值,再將計(jì)算結(jié)果顯示出來(lái)。

圖片1

式中: H-測(cè)量厚度; v-材料聲速;

t-超聲波在試件中往返一次的傳播時(shí)間。

表1.2 探頭選擇

名稱(chēng)型號(hào)頻 率 (MHz)探 頭 直 徑測(cè)量范圍最小管徑特性描述
粗晶探頭N022.512mm3.0mm~600.0mm(鋼) 40mm以下(灰鑄鐵HT200)20mm用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量
大量程粗晶探頭N02220mm3.0mm~600.0mm(鋼) 100mm以下(灰鑄鐵HT200)20mm用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)探頭N05/90°510mm1.0mm~600.0mm(鋼)Φ20mm×3.0mm專(zhuān)用
微徑探頭N0776mm0.8mm~80.0mm(鋼)Φ15mm×2.0mm用于薄壁及小弧面的測(cè)量
微徑探頭N010104mm0.75mm~3.3mm(鋼)Φ8mm×2.0mm用于薄壁及小弧面的測(cè)量
高溫探頭HT5214mm3~200mm (鋼)30mm用于溫度小于300℃的材料的測(cè)量

1.4 工作條件

環(huán)境溫度:操作溫度-20℃~+50℃;存儲(chǔ)溫度:-30℃~+70℃

相對(duì)濕度≤90%;

周?chē)h(huán)境無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無(wú)腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。

2 結(jié)構(gòu)與外觀

圖片2

1 外殼  2 鍵盤(pán)  3液晶屏 4發(fā)射插座 5接收插座

6 校準(zhǔn)厚度塊  10超聲探頭(簡(jiǎn)稱(chēng)探頭)

2.1主顯示界面

儀器開(kāi)機(jī)后會(huì)自動(dòng)進(jìn)入主顯示界面,如下圖所示:

圖片3

耦合狀態(tài):探頭與被測(cè)工件的耦合狀態(tài)

單位制式:MM、M/S(公制時(shí))

電池電量:電池剩余電量顯示

信息顯示:顯示厚度測(cè)量值,以及簡(jiǎn)單的操作提示信息。

2.2鍵盤(pán)定義

圖片4儀器開(kāi)關(guān)鍵圖片8菜單鍵
圖片5數(shù)字增加鍵/向上鍵/常用聲速切換鍵圖片9取消鍵/測(cè)聲速測(cè)厚模式切換鍵
圖片6 圖片10校準(zhǔn)鍵/確認(rèn)鍵
圖片7位數(shù)選擇鍵圖片11數(shù)字減小鍵/向下鍵/數(shù)據(jù)保存鍵

3 測(cè)量前的準(zhǔn)備

3.1 儀器準(zhǔn)備

新購(gòu)儀器請(qǐng)參照裝箱單仔細(xì)查對(duì)儀器及附件,不全時(shí)請(qǐng)及時(shí)與廠家聯(lián)系。

3.2 探頭選擇

根據(jù)被測(cè)對(duì)象的厚度及形狀來(lái)選擇探頭。

選擇的依據(jù)請(qǐng)參考本手冊(cè)1.4的表1.2:探頭選擇。

3.3 被測(cè)工件的表面處理

若被測(cè)體表面很粗糙或銹蝕嚴(yán)重,請(qǐng)用以下方法處理:

在被測(cè)體表面使用耦合劑;

利用除銹劑、鋼絲刷或砂紙?zhí)幚肀粶y(cè)體表面

在同一點(diǎn)附近多次測(cè)量

4 儀器使用

4.1 儀器開(kāi)、關(guān)機(jī)

1) 將探頭插頭插入儀器探頭插座中;

2) 按圖片4鍵,儀器屏幕顯示開(kāi)機(jī)畫(huà)面后自動(dòng)進(jìn)入測(cè)量界面,并顯示當(dāng)前儀器中設(shè)置的聲速值,此時(shí)儀器的各參數(shù)為上次關(guān)機(jī)前使用的參數(shù);

在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下,按圖片4鍵可以實(shí)現(xiàn)關(guān)機(jī)操作。

4.2 探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)

在每次更換探頭、改變聲速、更換電池、環(huán)境溫度變化較大或者測(cè)量出現(xiàn)偏差時(shí)應(yīng)進(jìn)行探頭校準(zhǔn)。此步驟對(duì)保證測(cè)量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要,可重復(fù)多次。步驟如下:

1) 測(cè)量?jī)x器上提供的標(biāo)準(zhǔn)試塊((4.00±0.01)mm,當(dāng)聲速為5920m/s時(shí));

2) 儀器顯示校準(zhǔn)測(cè)量值((4.00±0.01)mm,當(dāng)聲速為5920m/s時(shí)),校準(zhǔn)過(guò)程完畢。

注意!

(1)校準(zhǔn)操作前,請(qǐng)先確認(rèn)是否退出了聲速修改模式,在聲速修改模式時(shí)儀器不可進(jìn)行校準(zhǔn)操作。

(2)只限于將探頭耦合在儀器面板上的標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行校準(zhǔn),而不得在其它任何試塊上使用此鍵,否則將引起測(cè)量錯(cuò)誤。

4.3 聲速設(shè)置

當(dāng)已知材料的聲速時(shí),可以利用儀器提供的聲速調(diào)節(jié)功能,并依據(jù)附表中的參考聲速值,調(diào)整儀器的內(nèi)置聲速值。操作方法為:

方式1

(1)在測(cè)厚模式下,按圖片6鍵,或按圖片7鍵,進(jìn)入聲速調(diào)整。

(2)按圖片5鍵,或按圖片11鍵在修改聲速值;

(3)修改完成聲速值后請(qǐng)退出聲速修改模式

方式2

(1)在測(cè)厚模式下直接按圖片11鍵,選擇常用聲速

4.4 聲速測(cè)量

在被測(cè)材料的聲速未知時(shí),可利用儀器提供的聲速測(cè)量功能計(jì)算材料的聲速值。請(qǐng)注意,利用這一功能時(shí),請(qǐng)用戶(hù)使用與被測(cè)材料同質(zhì)并已知厚度的試塊。具體操作過(guò)程如下:

1) 首*行一次探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)(探頭沒(méi)有校準(zhǔn)前無(wú)法進(jìn)入測(cè)聲速模式)

2) 在測(cè)厚模式下,按圖片9鍵,切換到聲速測(cè)量模式;

3) 在測(cè)聲速模式下,按圖片6鍵,或按圖片7鍵,進(jìn)入工件厚度調(diào)整;

4) 按圖片5鍵,或按圖片11鍵在修改工件厚度值。

5) 按鍵,確認(rèn)工件聲速,并自動(dòng)返回到測(cè)厚模式。

4.5厚度測(cè)量

將耦合劑均勻涂于被測(cè)區(qū)域,將探頭與被測(cè)材料表面緊密耦合,屏幕將顯示被測(cè)區(qū)域的測(cè)量厚度。當(dāng)探頭與被測(cè)材料良好耦合時(shí),屏幕將顯示耦合標(biāo)志,如果耦合標(biāo)志閃爍或無(wú)耦合標(biāo)志則表示耦合狀況不好。移開(kāi)探頭后,耦合標(biāo)志消失,厚度值保持。

4.6 存儲(chǔ)功能

4.6.1 存儲(chǔ)測(cè)量值

儀器中最多40個(gè)厚度測(cè)量值。厚度測(cè)量后可直接按圖片11鍵將測(cè)量值存入當(dāng)前文件中;如果要需要查看厚度值可以在菜單中查看,方式如下

1) 在厚度測(cè)量狀態(tài)下,按圖片14鍵,進(jìn)入菜單;

2) 按圖片11鍵,選擇到查看數(shù)據(jù)選項(xiàng)。

3) 按圖片10鍵查看之前保存的測(cè)厚數(shù)據(jù)。

4) 按圖片5鍵,或按圖片11鍵可以查看40個(gè)測(cè)厚值。

存儲(chǔ)厚度值時(shí),如果當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)已經(jīng)達(dá)到40個(gè),則儀器會(huì)自動(dòng)循環(huán)保存測(cè)厚數(shù)據(jù)。

4.7 背光功能

儀器液晶屏帶有EL背光功能,以便在光線(xiàn)昏暗處可以閱讀測(cè)量值。由于背光打開(kāi)后,儀器功耗明顯增加,所以請(qǐng)?jiān)诒匾臅r(shí)候才打開(kāi)背光,以節(jié)約用電,延長(zhǎng)電池使用時(shí)間。

在厚度測(cè)量狀態(tài)下,按圖片14鍵,進(jìn)入菜單 可以設(shè)置背光開(kāi)關(guān)。

4.8 電池電量指示

儀器主機(jī)內(nèi)裝有串聯(lián)連接的2節(jié)AA尺寸(5號(hào))堿性電池。電池電量充足時(shí),電量指示符號(hào)滿(mǎn)格顯示;電池用過(guò)一段時(shí)間后,電池符號(hào)會(huì)顯示為非滿(mǎn)格;電池接近用完時(shí),電池符號(hào)會(huì)閃動(dòng)顯示 圖片15,此時(shí)應(yīng)該立即更換電池。

4.11 自動(dòng)關(guān)機(jī)

儀器具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能,以節(jié)省電池電能。

在菜單選項(xiàng)中有設(shè)置自動(dòng)關(guān)機(jī)   

0分為關(guān)閉自動(dòng)關(guān)機(jī)功能;

3分為在無(wú)操作且未檢測(cè)到物體時(shí)3分鐘后儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī);

6分為在無(wú)操作且未檢測(cè)到物體時(shí)6分鐘后儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī);

9分為在無(wú)操作且未檢測(cè)到物體時(shí)9分鐘后儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī);

當(dāng)電池電壓過(guò)低時(shí),儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)。

5 測(cè)量應(yīng)用技術(shù)

5.1 測(cè)量方法

單點(diǎn)測(cè)量法:在被測(cè)體上任一點(diǎn),利用探頭測(cè)量,顯示值即為厚度值。

兩點(diǎn)測(cè)量法:在被測(cè)體的同一點(diǎn)用探頭進(jìn)行二次測(cè)量,在二此測(cè)量中,探頭的分割面成90o,較小值為厚度值。

多點(diǎn)測(cè)量法:在直徑約為30 mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,取其最小值為厚度值。

連續(xù)測(cè)量法:用單點(diǎn)測(cè)量法,沿線(xiàn)路連續(xù)測(cè)量,其間隔不小于5 mm ,取其中最小值為被測(cè)體厚度值。

5.2管壁測(cè)量法

測(cè)量時(shí),探頭分割面可分別沿管材的軸線(xiàn)或垂直管材的軸線(xiàn)測(cè)量。若管徑大時(shí),測(cè)量應(yīng)在垂直軸線(xiàn)的方向測(cè)量;管徑小時(shí),應(yīng)在二方向測(cè)量,取其中最小值為厚度值。

6維護(hù)及注意事項(xiàng)

6.1 電源檢查

   電池容量接近用完或用完時(shí),應(yīng)該及時(shí)更換電池,以免影響測(cè)量精度。儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)將電池取出,以免電池漏液,腐蝕儀器盒與電極片。

注意電池安裝時(shí)的正負(fù)極性!極性顛倒可能導(dǎo)致儀器損壞!

6.2 一般注意事項(xiàng)

應(yīng)避免儀器及探頭受到強(qiáng)烈震動(dòng);

避免儀器置于過(guò)于潮濕的環(huán)境中;

插拔探頭時(shí),應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線(xiàn)用力,不可旋轉(zhuǎn)探頭,以免損壞探頭電纜芯線(xiàn)。

油、灰塵的附著會(huì)使探頭線(xiàn)逐漸老化、斷裂,使用后應(yīng)清除纜線(xiàn)上的污垢。

6.3 測(cè)量中注意事項(xiàng)

測(cè)量時(shí),只有出現(xiàn)耦合圖標(biāo)并穩(wěn)定時(shí),才是良好的測(cè)量;

若被測(cè)體表面有大量耦合劑時(shí),當(dāng)探頭離開(kāi)被測(cè)體表面時(shí),耦合劑會(huì)引起誤測(cè)。因此測(cè)量結(jié)束時(shí),應(yīng)迅速將探頭移開(kāi)被測(cè)體表面。

探頭表面為丙烯樹(shù)脂,對(duì)粗糙表面的重劃很敏感,因此在使用中應(yīng)輕按;測(cè)粗糙表面時(shí),盡量減少探頭在工作表面的劃動(dòng)。

常溫測(cè)量時(shí),被測(cè)物表面不應(yīng)超過(guò)60℃,否則探頭不能再用。

若探頭磨損,測(cè)量會(huì)出現(xiàn)示值不穩(wěn),此時(shí)應(yīng)更換探頭。

6.4 標(biāo)準(zhǔn)試塊的清潔

由于使用標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí),需涂耦合劑,所以請(qǐng)注意試塊的防銹。使用后將標(biāo)準(zhǔn)試塊擦干凈。氣溫較高時(shí)不要沾上汗液。長(zhǎng)期不使用應(yīng)在隨機(jī)試塊表面涂上少許油脂防銹,當(dāng)再次使用時(shí),將油脂擦凈后,即可進(jìn)行正常工作。

6.5 機(jī)殼的清潔

酒精、稀釋液等對(duì)機(jī)殼尤其是視窗有腐蝕作用,故清洗時(shí),用少量清水輕輕擦拭即可。

6.6 儀器維修

當(dāng)儀器出現(xiàn)非正?,F(xiàn)象(如儀器損壞,不能測(cè)量;液晶顯示不正常;正常使用時(shí),誤差過(guò)大;鍵盤(pán)操作失靈或混亂等)時(shí),請(qǐng)用戶(hù)不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配之零部件,請(qǐng)?zhí)钔妆P蘅ê?,交由我公司維修部門(mén),執(zhí)行保修條例。

7 貯存與運(yùn)輸條件

貯存時(shí)應(yīng)遠(yuǎn)離振動(dòng)、強(qiáng)烈磁場(chǎng)、腐蝕性介質(zhì)、潮濕、塵埃,應(yīng)在常溫下貯存。

運(yùn)輸時(shí)在保證原包裝的狀態(tài)下,可在三級(jí)公路條件下進(jìn)行。

 材料聲速
in/µsm/s
Aluminum0.2506340-6400
Steel, common0.2335920
不銹鋼Steel, stainless0.2265740
黃銅Brass0.1734399
Copper0.1864720
Iron0.2335930
鑄鐵Cast Iron0.173-0.2294400-5820
Lead0.0942400
尼龍Nylon0.1052680
Silver0.1423607
Gold0.1283251
Zinc0.1644170
Titanium0.2365990
Tin0.1172960
丙烯酸(類(lèi))樹(shù)脂 0.1092760
環(huán)氧樹(shù)脂Epoxy resin0.1002540
Ice0.1573988
Nickel0.2225639
樹(shù)脂玻璃Plexiglass0.1062692
陶瓷Porcelain0.2305842
聚氯乙烯PVC0.0942388
石英Quartz glass0.2225639
硫化橡膠Rubber, vulcanized0.0912311
Water0.0581473

附錄A材料聲速

注:所列的聲速均為近似值,僅供參考。

附錄B 超聲測(cè)厚中的常見(jiàn)問(wèn)題與處理方法

B.1 表面狀況對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

B.1.1 表面覆蓋物

測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等覆蓋物。

B.1.2 粗糙表面

過(guò)于粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差,甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。

B.1.3 粗加工表面

粗加工表面(如車(chē)床或刨床)所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差,處理方法同上。另外調(diào)整超聲探頭串音隔層板(穿過(guò)探頭底面中心的金屬薄層)與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角,使隔層板與細(xì)槽相互垂直或平行,取讀數(shù)中的最小值作為測(cè)量厚度,可取得較好效果。

B1.4 圓柱型表面

測(cè)量圓柱型材料,如管子、油桶等,正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)之間的夾角至關(guān)重要。簡(jiǎn)單地說(shuō),將探頭與被測(cè)材料耦合,探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)平行或垂直,沿與被測(cè)材料軸線(xiàn)方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭,屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化,選擇讀數(shù)中的最小值,作為材料的測(cè)量厚度。

根據(jù)材料的曲率正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線(xiàn)夾角方向。直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線(xiàn)垂直;直徑較小的管材,則選擇與管子軸線(xiàn)平行和垂直兩種測(cè)量方法,取讀數(shù)中的最小值作為測(cè)量厚度。

B1.5 復(fù)合外形

當(dāng)測(cè)量復(fù)合外形的材料(如管子彎頭處)時(shí)可采用上文介紹的方法,所不同的是要進(jìn)行二次測(cè)量,分別讀取探頭串音隔層板與軸線(xiàn)垂直和平行的兩個(gè)數(shù)值,其較小的一個(gè)數(shù)作為該材料在測(cè)量點(diǎn)處的厚度測(cè)量值。

B1.6 不平行表面

為了得到穩(wěn)定、可靠的厚度測(cè)量值,被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起較大測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。

B.2 溫度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

材料的厚度與超聲波在材料中的傳播速度均受溫度的影響。對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),可采用試塊對(duì)比法,即用相同材料、近似厚度的試塊在相同溫度條件下進(jìn)行測(cè)量,并求得溫度補(bǔ)償系數(shù),用此系數(shù)修正被測(cè)工件的測(cè)量值

B.3材料衰減對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響

對(duì)于一些如纖維、多孔、粗晶等材料,它們會(huì)造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致可能使儀器出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù)(通常反常的讀數(shù)小于實(shí)際厚度)。在這種情況下,該材料不適于用此測(cè)厚儀進(jìn)行厚度測(cè)量。

B.4 參考試塊的使用

對(duì)不同材料在不同條件下進(jìn)行精確測(cè)量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測(cè)材料,測(cè)量就越精確。理想的參考試塊將是一組被測(cè)材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補(bǔ)償校正因素(如材料的微觀結(jié)構(gòu)、熱處理?xiàng)l件、粒子方向、表面粗糙等)。為了滿(mǎn)足精度測(cè)量的要求,一套參考試塊將是很重要的。

在大部分情況下,只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿(mǎn)意的測(cè)量精度,這個(gè)試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能作為一個(gè)試塊。

對(duì)于薄材料,在它的厚度接近于探頭測(cè)量下*,可用試塊來(lái)確定準(zhǔn)確的低限。不要測(cè)量低于下限厚度的材料。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。

當(dāng)被測(cè)材料較厚時(shí),特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等,應(yīng)在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測(cè)材料的,以便于掌握校準(zhǔn)。

大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會(huì)有少量變化,為了解決這個(gè)問(wèn)題,試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。

在一定情況下,查已知材料的聲速表,可代替參考試塊,但這只是近似地代替一些參考試塊,在一些情況下,聲速表中的數(shù)值與實(shí)際測(cè)量有別,這是因?yàn)椴牧系奈锢砑盎瘜W(xué)情況有異。這種方法常被用來(lái)測(cè)低碳鋼,但只能作為粗略測(cè)量。

本測(cè)厚儀具有測(cè)量聲速的功能,故可先測(cè)量出聲速,再以此聲速對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量。

B.5 鑄件測(cè)量 

鑄件測(cè)量有其特殊性。鑄件材料的晶粒比較粗大,組織不夠致密,再加上往往處于毛面狀態(tài)就進(jìn)行測(cè)量,因此使測(cè)量遇到較大的困難。

首先是晶粒的粗大和組織不致密性造成聲能的極大衰減,衰減是由材料對(duì)聲能的散射和吸收造成的。衰減的程度與晶粒尺寸和超聲頻率是有密切關(guān)系的,相同頻率下衰減隨晶粒直徑的增大而增大,但有一點(diǎn),超過(guò)這一點(diǎn),晶粒直徑再增大,衰減基本趨于一個(gè)固定值。對(duì)于不同頻率的探頭,衰減隨頻率的增大而增大。

其次,當(dāng)晶粒粗大和鑄造中存在粗大異相組織時(shí),將對(duì)超聲信號(hào)產(chǎn)生異常反射,產(chǎn)生草狀回波或樹(shù)狀回波,使測(cè)厚結(jié)果出現(xiàn)錯(cuò)誤讀數(shù),造成誤判。

另外,隨著晶粒的粗大,金屬結(jié)晶方向上的各向異性表現(xiàn)得更為顯著,從而使不同方向上的聲速造成差異,差異甚至可達(dá)5.5%。而且工件內(nèi)不同位置上組織的致密性也不一致,這也將造成聲速的差異。這些因素都將引起測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。因此對(duì)鑄件測(cè)量要特別小心。

對(duì)鑄件測(cè)量時(shí)應(yīng)注意:

在測(cè)量表面粗糙的鑄件時(shí),必須采用粘度較大的機(jī)油、黃油等作耦合劑。

建議用與待測(cè)物相同的材料,測(cè)量方向與待測(cè)物也相同的試塊來(lái)校準(zhǔn)材料的聲速。

必要時(shí)可進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。

B.6 減小測(cè)量誤差的方法

B.6.1 超薄材料

使用任何超聲波測(cè)厚儀,當(dāng)被測(cè)材料的厚度降到探頭使用下限以下時(shí),將導(dǎo)致測(cè)量誤差,必要時(shí),最小極限厚度可用試塊比較法測(cè)得。

當(dāng)測(cè)量超薄材料時(shí),有時(shí)會(huì)發(fā)生一種稱(chēng)為“雙重折射”的錯(cuò)誤結(jié)果,它的現(xiàn)象為:顯示讀數(shù)是實(shí)際厚度的二倍;另一種錯(cuò)誤結(jié)果被稱(chēng)為“脈沖包絡(luò)、循環(huán)跳躍”,它的現(xiàn)象是測(cè)量值大于實(shí)際厚度,為防止這類(lèi)誤差,測(cè)臨界薄材料時(shí)應(yīng)反復(fù)測(cè)量核對(duì)。

B.6.2銹斑、腐蝕凹坑等

被測(cè)材料另一表面的銹斑凹坑(很小的銹點(diǎn)有時(shí)是很難發(fā)現(xiàn)的)等將引起讀數(shù)無(wú)規(guī)則地變化,在情況下甚至無(wú)讀數(shù)。當(dāng)發(fā)現(xiàn)凹坑或感到懷疑時(shí),對(duì)這個(gè)區(qū)域的測(cè)量就得十分小心,可選擇探頭串音隔層板不同角度的定位來(lái)作多次測(cè)試。

B6.3 材料識(shí)別錯(cuò)誤

當(dāng)用一種材料校正了儀器后,又去測(cè)量另一種材料時(shí),將發(fā)生錯(cuò)誤的結(jié)果,應(yīng)注意選擇正確的聲速。

B6.4 探頭的磨損

探頭表面為丙烯樹(shù)脂,長(zhǎng)期使用會(huì)使其粗糙度增高,導(dǎo)致探頭靈敏度下降,如果探頭磨損嚴(yán)重導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果誤差較大,可用砂紙或油石少量打磨探頭表面使其平滑并保證平行度。如測(cè)值仍不穩(wěn)定,則需更換探頭。

B6.5 多層材料、復(fù)合材料

要測(cè)量結(jié)合面不緊密的多層材料是不可能的,因超聲波無(wú)法穿透未經(jīng)耦合的結(jié)合面。因?yàn)槌暡ú荒茉趶?fù)合材料中以勻速傳播,所以用超聲反射原理測(cè)量厚度的儀器均不適于測(cè)量多層材料和復(fù)合材料。

B6.6 金屬表面氧化層的影響

有些金屬可能在其表面產(chǎn)生較致密的氧化層,例如鋁等,這層氧化層與基體間結(jié)合緊密,無(wú)明顯界面,但超聲波在這兩種物質(zhì)中的傳播速度是不同的,故會(huì)造成測(cè)量誤差,且氧化層厚度不同誤差的大小也不同。請(qǐng)用戶(hù)在使用時(shí)注意這種情況??梢栽谕慌粶y(cè)材料中選擇一塊制成樣塊,用千分尺或卡尺測(cè)量測(cè)量其厚度,并用該樣塊對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

B6.7 反常的厚度讀數(shù)

操作者應(yīng)具備辨別反常讀數(shù)的能力,通常銹斑、腐蝕凹坑、被測(cè)材料內(nèi)部缺陷都將引起反常讀數(shù)。解決辦法可參考本手冊(cè)的有關(guān)章節(jié)。

B6.8 耦合劑的選擇和使用

耦合劑是用來(lái)作為探頭與被測(cè)材料之間的超聲信號(hào)傳播載體。如果耦合劑的種類(lèi)或使用方法不當(dāng)將有可能造成較大誤差,或者耦合標(biāo)志閃爍,測(cè)值無(wú)法穩(wěn)定。耦合劑應(yīng)適量使用,涂沫均勻。

選擇合適類(lèi)型的耦合劑非常重要。當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí),可以使用低粘度的耦合劑(如隨機(jī)配置的耦合劑、輕機(jī)油等);當(dāng)使用在粗糙材料表面,或垂直表面及頂面時(shí),需要使用粘度較高的耦合劑(如甘油膏、黃油、潤(rùn)滑脂等)。

儀器配置清單

 序號(hào)名稱(chēng)數(shù)量備注
標(biāo)準(zhǔn)配置1主機(jī)1臺(tái) 
2標(biāo)準(zhǔn)探頭(5MHz)1只 
3耦合劑1瓶 
4ABS儀器箱1只 
5隨機(jī)資料1份 
6AA(5號(hào))尺寸堿性電池2只 
7   
8   
可選配置9粗晶探頭(2MHz)  
10大量程粗晶探頭(2.5MHz)  
11微徑探頭(7MHz)  
12微徑探頭(10MHz)  
13高溫探頭(2MHz)  

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