詳細參數(shù)：
上海精科UV762紫外可見分光光度計主要特點：
● 全新的光學系統(tǒng)設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光和噪聲低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
● *的氘燈和鎢燈安裝、光源自動切換及自動尋找位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全。
● 優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強的光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜、多波長（1～3λ）測定、動力學測定、1～3次曲線擬合、1～4階導數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
● 采用大屏幕中文窗口顯示，具有良好的人機對話界面。
上海精科UV762紫外可見分光光度計技術指標：
● 波長范圍：200nm～1100nm
● 波長允許誤差：±0.5nm
● 波長重復性：≤0.2nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）
● 透射比重復性：0.2%（T）
● 光譜帶寬：2nm
● 基線平直度：±0.004A(200nm～1000nm)
● 漂移：≤0.004A/h(500nm處，預熱2小時)
● 雜散光：≤0.15%(T)（在220nm處, 以NaI測定）（在360nm處，以NaNO2測定)
其它：
● 電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz
