手持式 XRF 光譜儀 - X-MET8000 系列

X-MET8000系列手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀具備進(jìn)行快速合號(hào)識(shí)別并對(duì)各種材料（固體和金屬粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）進(jìn)行精確化學(xué)分析的性能。X-MET手持式XRF分析儀實(shí)用且堅(jiān)固，易于使用，可提供值得信任的結(jié)果。

我們提供一系列手持XRF光譜儀型號(hào)，以滿足不同應(yīng)用的所有分析需求和預(yù)算。我們的手持式XRF光譜儀系列目前提供1年保修*和新服務(wù)以及校準(zhǔn)計(jì)劃，可幫助貴司節(jié)省資金。

為什么選擇 X-MET 光譜儀

性能

X-MET提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測(cè)限度低，且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。

通過(guò)靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析，從而測(cè)試多種材料；或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確，則使用實(shí)證校準(zhǔn)。

操作簡(jiǎn)單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶(hù)界面，使用戶(hù)只需要極少的培訓(xùn)便可開(kāi)始操作。

符合人體工學(xué)

X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡(jiǎn)潔、平衡性好，可供長(zhǎng)時(shí)間使用，而疲勞度。

堅(jiān)固耐用而擁有成本低

符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過(guò)MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。

高級(jí)數(shù)據(jù)管理

*靈活：可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上，將報(bào)告輸出到U盤(pán)或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。

應(yīng)用

為預(yù)防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果，在不同生產(chǎn)階段中進(jìn)行質(zhì)量控制和質(zhì)量保證至關(guān)重要。通過(guò)手持式X射線熒光(HHXRF)，您可以在進(jìn)料送達(dá)時(shí)進(jìn)行快速檢查，并且確認(rèn)從制造到送貨過(guò)程中使用了合格的合金材料。手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC

為何選擇X-MET8000 系列手持式合金分析儀來(lái)完成此任務(wù)？

X-MET提供：

• 為快速和可靠金屬分析提供較優(yōu)性能

• 為準(zhǔn)確的合號(hào)鑒定提供多種和可定制的合號(hào)數(shù)據(jù)庫(kù)

• 堅(jiān)固耐用而擁有成本低

• 使用方便：用戶(hù)幾乎不需培訓(xùn)

• 多樣化數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到分析儀、創(chuàng)建測(cè)試報(bào)告或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)，隨時(shí)隨地管理您的數(shù)據(jù)。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定

材料可靠性鑒定(PMI)計(jì)劃使工廠操作員和維修員可測(cè)試安裝前后的關(guān)鍵流程組件，以確保資產(chǎn)完整性，并預(yù)防潛在的災(zāi)難性故障。通過(guò)手持式X射線熒光分析儀(HHXRF)，您可以在幾秒內(nèi)在現(xiàn)場(chǎng)上確認(rèn)合金的牌號(hào)及其元素化學(xué)成分。您無(wú)需再依賴(lài)供應(yīng)商的認(rèn)證。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進(jìn)行PMI檢查？

• 為快速和可靠金屬分析提供較優(yōu)性能

• 為準(zhǔn)確的合金鑒定提供多種和可定制的等級(jí)數(shù)據(jù)庫(kù)。

• 牢固耐用而擁有成本低

• 使用方便：幾乎不需用戶(hù)培訓(xùn)

• 以完成任務(wù)為主的設(shè)計(jì)：便于使用的較優(yōu)人體工學(xué)，優(yōu)化的設(shè)計(jì)，以便檢測(cè)難以到達(dá)位置的材料（如彎曲處和角落）

• 多樣化數(shù)據(jù)管理：可將結(jié)果保存在分析儀上、將定制報(bào)告輸出到U盤(pán)或個(gè)人計(jì)算機(jī)，或使用應(yīng)用程序或云服務(wù)存儲(chǔ)并分享您的數(shù)據(jù)。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收

每年，超過(guò)4億噸廢金屬被處理。通過(guò)檢測(cè)對(duì)廢金屬進(jìn)行分類(lèi)，從將混合廢料分類(lèi)為低價(jià)值和高價(jià)值材料，到確定進(jìn)入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量，金屬回收過(guò)程中的各個(gè)階段都可增加價(jià)值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場(chǎng)，為金屬回收過(guò)程中的每個(gè)階段增添價(jià)值。

為什么選擇X-MET8000？

• 通過(guò)精確的合號(hào)鑒定和元素化學(xué)分析（包括分析雜質(zhì)和懲罰元素），較大限度地提高生產(chǎn)力和利潤(rùn)

• 檢測(cè)合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料

• 易于使用：在幾秒后即可開(kāi)始測(cè)試；幾乎無(wú)需用戶(hù)培訓(xùn)

• 堅(jiān)固耐用：IP54評(píng)級(jí)（密封防塵和防濺水），并通過(guò)MIL-STD 810G檢測(cè)，堅(jiān)固耐用

• 擁有成本低：我們的可選防扎窗口在測(cè)量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時(shí)保護(hù)分析儀的檢測(cè)器，避免昂貴的維修

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理：將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在分析儀、U盤(pán)，或用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)與同事和買(mǎi)家實(shí)時(shí)分享結(jié)果

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個(gè)階段——從早期探索到現(xiàn)場(chǎng)關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場(chǎng)的地球化學(xué)分析。這極大減少了對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的需求，加快了決策過(guò)程并降低了檢測(cè)成本。 

為什么選擇X-MET8000 Geo？

• 的性能：我們的革命性BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測(cè)器提供相當(dāng)于其他HHXRF型號(hào)10倍的靈敏度，提供測(cè)量探路儀或懲罰元件所需的低限探測(cè)范圍。

• 快速分析：在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量多達(dá)40個(gè)元素；快速完成測(cè)試程序。

• 因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時(shí)間縮至最短。

• 出色的穩(wěn)定性：無(wú)論天氣如何，您都可信賴(lài)結(jié)果。

• 易于使用：幾乎不需要用戶(hù)培訓(xùn)。

• 內(nèi)置GPS：將地理坐標(biāo)與測(cè)試結(jié)果相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)較好的站點(diǎn)映射。

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時(shí)隨地通過(guò)藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導(dǎo)出到U盤(pán)，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測(cè)

土壤污染逐漸由工業(yè)流程（如采礦和制造）、農(nóng)業(yè)（使用肥料和殺蟲(chóng)劑）或廢物處理（如錯(cuò)誤地進(jìn)行垃圾填埋）等人類(lèi)活動(dòng)造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對(duì)人體健康有害，許多國(guó)家已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案，以識(shí)別污染區(qū)域并管理修復(fù)過(guò)程（補(bǔ)救）。

例如，作為美國(guó)廢物管理計(jì)劃的一部分，美國(guó)引入了6200標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法，確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。

操作者可以使用HHXRF，快速在現(xiàn)場(chǎng)篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠極大減少送到場(chǎng)外實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析的樣本數(shù)量，并降低了分析成本和完成測(cè)試程序所需的時(shí)間。通過(guò)孤立問(wèn)題區(qū)域和在現(xiàn)場(chǎng)確定補(bǔ)救邊界，操作者可較大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000 Expert Geo？

• 的性能：利用我們革命性的BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測(cè)器，滿足當(dāng)今和未來(lái)的檢測(cè)要求。它們提供了相當(dāng)于其他HHXRF型號(hào)10倍的靈敏度，為測(cè)量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素（例如美國(guó)EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素）提供所需的低檢測(cè)限制

• 快速分析：快速完成調(diào)查

• 杰出的穩(wěn)定性：無(wú)論天氣如何，您都可以信賴(lài)結(jié)果。

• 因牢固耐用而降低擁有成本，并使停工時(shí)間縮至最短

• 易于使用：幾乎不需要用戶(hù)培訓(xùn)

• 嵌入式GPS：將地理坐標(biāo)與測(cè)試結(jié)果相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)較好的站點(diǎn)映射。

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能：隨時(shí)隨地通過(guò)藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果，并將其附在樣本袋上，以避免混淆；將其導(dǎo)出到U盤(pán)，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測(cè)

無(wú)論您是電子設(shè)備、兒童產(chǎn)品和其他消費(fèi)品的制造商、零售商或進(jìn)口商，您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令（例如2008年CPSIA - 消費(fèi)者產(chǎn)品安全改進(jìn)法、包裝指令，WEEE - 電子電氣設(shè)備廢棄物、CA 65號(hào)等）的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定，以提高產(chǎn)品的安全性，并通過(guò)控制產(chǎn)品的“上游”來(lái)源和處理技術(shù)，減少環(huán)境污染物。這一立法影響到各個(gè)行業(yè)，包括原材料供應(yīng)商，組件和成品制造商和零售商。

通過(guò)X射線熒光(XRF)進(jìn)行合規(guī)性篩查，提供了被測(cè)組件元素化學(xué)成分的信息。因其速度快且無(wú)損，因此被廣泛使用，且收到標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)程序（如IEC 62321方法）的支持。

為什么選擇X-MET8000 Expert CG？

• *便攜：小巧輕便，X-MET可被帶到需要分析的地方（例如進(jìn)貨檢驗(yàn)、倉(cāng)庫(kù)、從工廠到工廠）

• 快速而準(zhǔn)確地篩選各種材料（例如聚合物、合金）

• 快速：當(dāng)場(chǎng)做出接受/拒絕決

• 易于使用：幾乎不需要用戶(hù)培訓(xùn)

• 可選的小光斑準(zhǔn)直器（直徑3毫米）：通過(guò)將其與周?chē)牧细綦x，精確檢測(cè)小特征

• 集成攝像頭：清楚看到您檢測(cè)的下面

• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理：將結(jié)果存儲(chǔ)在分析儀上、將報(bào)告導(dǎo)出到U盤(pán)，或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)實(shí)時(shí)管理您的數(shù)據(jù)

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測(cè)厚

金屬涂層在許多行業(yè)中被使用，并被用于裝飾用途（如鏡面拋光、金色），以增強(qiáng)耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能，且不會(huì)因涂層過(guò)厚而浪費(fèi)材料，電鍍公司需控制其工藝，并檢查最終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測(cè)量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認(rèn)可的分析技術(shù)。手持式XRF提供全面的多功能性：您可以將分析儀帶到需要測(cè)試的地方。

為什么選擇X-MET8000？

• 操作簡(jiǎn)單：X-MET擁有“對(duì)準(zhǔn)—拍攝”的直觀用戶(hù)界面；幾乎不需要用戶(hù)培訓(xùn)

• 快速、非破壞性的分析：快速制定流程變更決定；被檢零件無(wú)刮痕或其他損壞；不浪費(fèi)

• 多功能：分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

• 檢測(cè)笨重和大型項(xiàng)目的理想之選

• 堅(jiān)固耐用：IP54評(píng)級(jí)（密封防塵和防濺水），通過(guò)MIL-STD 810G檢測(cè)，堅(jiān)固耐用，X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設(shè)計(jì)

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復(fù)過(guò)程。這是一種非侵入式的技術(shù)，可以在幾秒鐘內(nèi)識(shí)別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金，無(wú)需采樣或準(zhǔn)備測(cè)試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處，例如檢測(cè)釉中的特定顏料，識(shí)別僅在特定時(shí)期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過(guò)檢查物體表面的元素組成，確定物體的哪一部分被修補(bǔ)，并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。

為什么選擇X-MET8000？

• 的性能：快速分析和低檢測(cè)限制，可靠識(shí)別微量元素

• 多用途：對(duì)各種材料進(jìn)行定性和定量分析；使用X-MET的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)，或根據(jù)您的具體要求進(jìn)行創(chuàng)建

• 集成攝像頭：將X-MET精確定位在要檢測(cè)的物體上

• 可選的小光斑準(zhǔn)直器（直徑3毫米）：將小的特征與周?chē)牟牧戏指糸_(kāi)，以獲得針點(diǎn)分析精度

• 多種輻射安全配件

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測(cè)

手持式X射線熒光（HHXRF）分析儀通常被用于檢測(cè)珠寶和其他貴金屬物品（如硬幣、銀器），以檢驗(yàn)真?zhèn)尾⒋_定其價(jià)值。貴金屬（如金(Au)和鉑(Pt)）的高價(jià)格意味著，成分的微小差別會(huì)產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價(jià)值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點(diǎn)：快速、無(wú)損（對(duì)被測(cè)物品無(wú)劃痕或損壞、不會(huì)造成材料損失），并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000？

• 快速準(zhǔn)確：高分析吞吐量，使生產(chǎn)力和盈利能力較大化

• 多用途：分析有價(jià)金屬、雜質(zhì)和有毒元素（如鉛和鎘），以確定可能有害的物品

• *便攜：X-MET8000小巧輕便（含電池重量5工具），可隨時(shí)隨地被運(yùn)輸和使用。燈架可被放入分析儀的運(yùn)輸箱內(nèi)

• 易于使用：直觀的用戶(hù)界面；幾乎不需要用戶(hù)培訓(xùn)

• 可選的集成攝像頭和小光點(diǎn)準(zhǔn)直器：了解您正在檢測(cè)的內(nèi)容

比較型號(hào)

X-MET8000 Smart

• X射線管：40kV

• 濾光片：?jiǎn)我?/p>

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 極限樣本溫度：400oC

• 符合 IP54 等級(jí)

• Thick Kapton®窗口：保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶(hù)損壞

• 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法(FP)

• 內(nèi)置攝像頭 （可選）

X-MET8000 Optimum

• X射線管：40kV or 50kV

• 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 極限樣本溫度：100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶(hù)400oC（可選)

• 符合 IP54 等級(jí)

• 可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

• 校準(zhǔn)：基本參數(shù)法 （包括輕元素分析）

• 內(nèi)置攝像頭（可選）

• 小光班準(zhǔn)直器（可選）

• 針對(duì)所有元素（從鎂到鈾）進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert

• X射線管：50kV

• 濾光片：6位濾光轉(zhuǎn)換器

• 檢測(cè)器：大面積 SDD

• 極限樣本溫度：100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶(hù)400oC（可選)

• 符合 IP54 等級(jí)

• 可選窗口防護(hù)罩：預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

• 校準(zhǔn)方法：自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法（可進(jìn)行追溯）

• 內(nèi)置攝像頭

• 小光班準(zhǔn)直器 （可選) 

• 針對(duì)所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片