射頻LCR測試儀HP4287A

產品名稱： 射頻LCR測試儀HP4287A
品　　牌： HP
產品型號： 4287A
產品指標： 1MHz～3GHz 
產品信息： ·1MHz～3GHz，以100KHz分檔
·阻抗測量范圍寬，從200mΩ到3KΩ
·在低測度信號電平上具有優(yōu)良的測量重復性
·基本精度為1%
·高速測量9ms

Agilent4287A射頻測試儀
　　Agilent4287A射頻測試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反向測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。

生產率高，質量可靠
　　4287A適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量非?？?。此外，在小測試電流100μA優(yōu)良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。

系統(tǒng)組建簡單
　　測試頭電纜1m或利用延伸電纜時為2m很容易接到元件固定裝置的被測件點測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。

便于使用
　　8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質量和效率的過程?？蛇x用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產監(jiān)控。此外，若干APC-7 SMD測量夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯(lián)用，從而無需制作夾具。
技術指標
（全面的技術指標參見數(shù)據(jù)資料表）
測量參數(shù)：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數(shù)）。
測試頻率：1MHz～3GHz
頻率分辨力：100KHz
測試信號：V:4.47mV～502mVf≤1GHz）; 4.47mV～447mvf>1GHz
　　　　 I:0.0894mA～10mAf≤1GHz;0.0894mA～8.94mAf>1GHz
電平監(jiān)視功能：電壓，電流
基本的Z精度：±1.0%
測量范圍：200mΩ～3kΩ1MHz下，精度≤10%
測量時間：每點9ms（zui高速）
Rdc測量：可用于觸點檢查
校準：開路/短路/負載/低損耗電容量
補償：開路/短路,電長度
大容量存儲功能：30MB固態(tài)大容量存儲或2GB硬盤（選擇選件）
接口：GPIB,:LAN10Base-T/100Base-Tx自動選擇，處理器接口
顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器

一般指標
電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax
工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%
尺寸：234mm高×425寬×445mm深（主機）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）

主要技術資料
4287A射頻LCR測試儀產品介紹，p/n 5968-5443E
4287A技術指標：p/n 5968-5758E
LCR測試儀，阻抗分析儀和測試夾具選購指南，p/n 5952-1430E

訂貨信息
4287A射頻LCR測試儀
供應的附件：測試頭（1m），3.5～7mm適配器，16195B　APC-7校準配件，鼠標器，鍵盤，操作手冊和電源線（4287A不提供測試夾具）
　　選件001　刪去16195B校準工具箱
　　選件002　刪去測試夾具座
　　選件003　刪去3.5mm～7mm適配器
　　選件004 增加工作標準套件
　　選件010 硬盤驅動大容量存儲器
　　選件011 固態(tài)大容量存儲器
　　選件020　增加電纜延伸套件

可提供的附件
16190B性能測試配件
16195B校準工具箱
16191A側面電極夾具
16192A平行電極夾具
16193A小側面電極夾具
16194A高溫測試夾具
16196A用于1608mm的平行電極SMD夾具
16196B用于1005mm的平行電極SMD夾具
16196C用于0603mm的平行電極SMD夾具
16197A底面電極夾具