美國(guó)OEwaves公司的Hi-Q射頻測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)利用微波光子學(xué)技術(shù)自動(dòng)測(cè)量超低相位微波信號(hào)源。Hi-Q射頻測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)測(cè)試速度快、*自動(dòng)化,且在的頻段的任何工作頻率產(chǎn)生一個(gè)射頻或微波信號(hào)源的相位噪聲譜密度。 該射頻測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)在寬頻段測(cè)量上有其*性,無(wú)需額外的低噪聲參考源或下變頻器,這與常規(guī)的零差法所要求的*不同。該系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單、方便、快速、精度高。 通過(guò)與美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院測(cè)量系統(tǒng)比較,下圖給出了經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的該測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)的互相關(guān)性能。
▪ 快速實(shí)時(shí)測(cè)量 ▪ 全自動(dòng)化 ▪ 互相關(guān)零差法能力 ▪ 不需要低噪聲噪聲參考信號(hào)源 ▪ 用戶友好界面 ▪ 簡(jiǎn)單的筆記本電腦操作 ▪ 6Ux 19英寸機(jī)架系統(tǒng) ▪ 可定制的配置, ▪ 升級(jí)和選項(xiàng)
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