5014i 的另一個(gè)*設(shè)計(jì)是針對(duì)那些已知的影響 β 射線衰減法的背景干擾。實(shí)際使用時(shí),天然惰性氣體氡(Rn-222)的子體核素附著到大氣顆粒物上,然后在質(zhì)量測(cè)量期間將其收集在樣品濾帶上。一些放射性子體核素也是 β 射線的發(fā)射源,會(huì)干擾顆粒物質(zhì)的正確測(cè)量。在以下情況下,干擾影響通常zu i大:
● 濾帶更換后的90 分鐘,直至濾帶上達(dá)到放射平衡
● 氡氣含量迅速變化期間
● C-14 源活性非常低的時(shí)候
5014i 采用了一種修正技術(shù),也就是在顆粒物的總 β 計(jì)數(shù)中,扣除天然放射源引起的那部分計(jì)數(shù)。這不但可以消除干擾,也讓使用低活度的 C-14 放射源成為了可能。在 5014i 中采用比例計(jì)數(shù)器,使得氡氣的潛在干擾計(jì)數(shù)可以被測(cè)到,這是因?yàn)檫@種計(jì)數(shù)器可以同時(shí)探測(cè)到 α 射線和 β 射線。比例計(jì)數(shù)器中充滿了惰性氣體,如果使用 <100 μCi 活度的 C-14 放射源,比例計(jì)數(shù)器的壽命在 10 年以上。
任何檢測(cè)器性能的衰減,可通過(guò)運(yùn)行期間持續(xù)的平臺(tái)校核程序識(shí)別到,而不會(huì)影響顆粒物濃度的準(zhǔn)確測(cè)量。
樣品流量通過(guò)一個(gè)比例電磁閥進(jìn)行控制。此閥門(mén)的開(kāi)度隨精密小孔上測(cè)得的流量而變化。