光學(xué)元件三維缺陷檢測(cè)儀(Model LS3D-2000),適用于各類(lèi)光學(xué)材料的三維缺陷檢測(cè)和分析,特別是光學(xué)晶體、光學(xué)玻璃的三維缺陷檢測(cè)和分析。本系統(tǒng)是一款快速、簡(jiǎn)便、高靈敏度檢測(cè)儀器。

1、速度快;
2、高靈敏度;
3、一鍵式全自動(dòng)操作。

光學(xué)元件三維缺陷檢測(cè)儀 | |
型號(hào) | LS3D-2000 |
缺陷檢測(cè)靈敏度 | 10 μm |
樣晶尺寸范圍 | 尺寸可訂制 |
檢測(cè)速度 | <2h@ 100 mmx 100 mmx20 mm |
設(shè)備重量 | 300kg |
注:可以根據(jù)客戶(hù)需求提供同類(lèi)特制儀器和相關(guān)測(cè)試的解決方案。