BIM-6303&BIM-6314 單雙臂反射支架
單雙臂反射支架可用于固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。單臂形態(tài)時(shí)主要用于固定Y型光纖探頭,可測量光垂直入射的情況;雙臂形態(tài)時(shí)主要用于固定兩根石英光纖探頭,可測量光不同角度入射的情況。單雙臂形態(tài)可以方便地互相切換,具備高靈活性和強(qiáng)實(shí)用性。
產(chǎn)品特點(diǎn)
多功能:支持單臂或雙臂反射應(yīng)用
定位樣品放置位置:適用于Φ40mm,Φ60mm,Φ80mm,Φ100mm直徑的樣品尺寸。
定位靈活 : 具有中心穩(wěn),多方向控制光纖入射和出射角度的特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于多角度測量。
技術(shù)參數(shù)
尺寸:Φ150mm×13mm
BIM-6315 倒置式反射支架
倒置式反射支架更加適合于需要精確測量光譜反射率的場合??梢员3謽悠分练瓷涔饫w的距離和標(biāo)準(zhǔn)參比樣品至反射光纖的距離精確相等。
兼容產(chǎn)品
SIM-6101&6102 石英光纖