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X射線衍射儀在物相鑒定的應(yīng)用
物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。每種晶體由于其*的結(jié)構(gòu)都具有與之相對(duì)應(yīng)的X射線衍射特征譜,這是X射線衍射物相分析的依據(jù)。將待測(cè)樣品的衍射圖譜和各種已知單相標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的衍射圖譜對(duì)比,從而確定物質(zhì)的相組成。確定相組成后,根據(jù)各相衍射峰的強(qiáng)度正比于該組分含量(需要做吸收校正者除外),就可對(duì)各種組分進(jìn)行定量分析。
X射線衍射儀在微觀應(yīng)力的測(cè)定中的應(yīng)用
微觀應(yīng)力是指由于形變、相變、多相物質(zhì)的膨脹等因素引起的存在于材料內(nèi)各晶粒之間或晶粒之中的微區(qū)應(yīng)力。當(dāng)一束X射線入射到具有微觀應(yīng)力的樣品上時(shí),由于微觀區(qū)域應(yīng)力取向不同,各晶粒的晶面間距產(chǎn)生了不同的應(yīng)變,即在某些晶粒中晶面間距擴(kuò)張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結(jié)果使其衍射線并不像宏觀內(nèi)應(yīng)力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應(yīng)是導(dǎo)致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應(yīng)力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線強(qiáng)度一半處的寬度是描述微觀殘余應(yīng)力的基本參數(shù)。
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光和氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng),稱為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056 nm。
X射線衍射儀的英文名稱是X-ray Powder diffractometer簡(jiǎn)寫為XPD或XRD。有時(shí)會(huì)把它叫做x射線多晶體衍射儀,英文名稱為X-ray polycrystalline diffractometer簡(jiǎn)寫仍為XPD或XRD。