朗鐸科技（北京）有限公司主營：手持光譜儀,激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）,直讀光譜儀
X射線衍射儀的應(yīng)用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質(zhì)剖面提供了技術(shù)保障。
每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關(guān)關(guān)系。在混合物中，一種物質(zhì)成分的衍射圖譜與其他物質(zhì)成分的存在與否無關(guān)，這就是X 射線衍射做相定量分析的基礎(chǔ)。X 射線衍射是晶體的'指紋'，不同的物質(zhì)具有不同的X 射線衍射特征峰值(點陣類型、晶胞大小、晶胞中原子或分子的數(shù)目、位置等)，結(jié)構(gòu)參數(shù)不同則X 射線衍射線位置與強度也就各不相同，所以通過比較X 射線衍射線位置與強度可區(qū)分出不同的礦物成分。X 射線衍射儀主要采集的是地層中各種礦物的相對含量，并系統(tǒng)采集各種礦物的標準圖譜，包括石英、鉀長石、斜長石、方解石、白云石、黃鐵礦等近30 種礦物成分，通過礦物成分的相對含量就可以確定巖石巖性，為現(xiàn)場巖性定名提供定量化的參考依據(jù)，提高特殊鉆井條件下巖性識別準確度。
X射線衍射儀基本信息
X射線衍射儀技術(shù)(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當某物質(zhì)(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代方法,已逐步在各學科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。
X射線衍射分析儀的優(yōu)勢如下
1; 少量樣本：僅需15毫克的材料。
2; 簡便的樣本準備工作：不需要技能熟練的技術(shù)人員。
3; 快速完成采集操作：在幾分鐘之內(nèi)可獲得分析結(jié)果。
4; 便于攜帶：電池供電，堅固耐用的機身設(shè)計，沒有移動部件。
5; 獨立操作的儀器：無需水冷裝置，也無需大型的外置電源。
6; 無需持續(xù)的維護服務(wù)：X射線衍射分析儀可以持續(xù)正常地工作，很少出現(xiàn)停運現(xiàn)象。
