單點反射臺
該反射臺/探頭支架可以為直徑達(dá)150毫米的基片或者光學(xué)層進(jìn)行遠(yuǎn)距離和近距離反射測量。
它可容納光纖探頭和直徑達(dá)6.35mm的其它采樣光學(xué)器件,上下滑動不銹鋼柱可調(diào)節(jié)高度至樣品上約63.5mm的位置。它可以與顯微鏡或者電鏡的接口相連接,使光透射到光譜儀上,進(jìn)行全光譜分析。
產(chǎn)品詳情
- 陽極氧化基臺上劃了多個直徑不同的同心圓,用于樣品定位
- 兼容直徑6.35mm(1/4″)的探頭
- 靈活 — 探頭可被定位在基臺以上63.5mm(2.5″)的位置
規(guī)格
工程規(guī)格 | STAGE |
芯片直徑: | 152.4mm |
采樣區(qū)直徑: | 101.6mm |
重量: | 620 g |
高度: | 橫桿可調(diào)至63.5mm高度 |