產(chǎn)品介紹:
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器
隨著國(guó)內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來(lái)越多的行業(yè)已經(jīng)開(kāi)始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格,所以在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中,試樣的加工是否合格會(huì)直接影響最終的試驗(yàn)結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格,那么其試驗(yàn)結(jié)果是不可信的,特別是試樣缺口的微小變化可能會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的巨大陡跳,尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí),會(huì)引起產(chǎn)品的合格或報(bào)廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格,其質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段,目前,用光學(xué)投影放大檢驗(yàn)是切實(shí)可行的方法。
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,對(duì)比直觀(guān)。
產(chǎn)品介紹:
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器
隨著國(guó)內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來(lái)越多的行業(yè)已經(jīng)開(kāi)始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格,所以在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中,試樣的加工是否合格會(huì)直接影響最終的試驗(yàn)結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格,那么其試驗(yàn)結(jié)果是不可信的,特別是試樣缺口的微小變化可能會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的巨大陡跳,尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí),會(huì)引起產(chǎn)品的合格或報(bào)廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格,其質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的控制手段,目前,用光學(xué)投影放大檢驗(yàn)是切實(shí)可行的方法。
XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,對(duì)比直觀(guān)。
技術(shù)參數(shù)