鹵素測(cè)試儀XRF-W7是西凡儀器自主研發(fā)、生產(chǎn)的新一代RoHS檢測(cè)儀，采用美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，元素測(cè)試范圍：從硫S--鈾U的所有元素，包括氟（F）、氯（Cl）、溴（Br）、碘（I）、砹（At）、石田（Ts）
主要應(yīng)用：
1、準(zhǔn)確檢測(cè)歐盟RoHS指令限制的有害物質(zhì)(鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價(jià)鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚)，也俗稱RoHS檢測(cè)儀；
2、無(wú)鹵指令，鹵素檢測(cè)；
3、玩具等行業(yè)限定的8大重金屬檢測(cè)，鎘(Cb)、鉛(Pb)、汞(Hg)、鉻(Cr)、銻(Sb)、砷(As)、鋇(Ba)、硒(Se)；
rohs無(wú)鹵測(cè)試儀XRF-W7用途有哪些？
RoHS檢測(cè)分析。
貴金屬元素的檢測(cè)
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
地礦等資源類的全元素分析
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
RoHS、無(wú)鹵標(biāo)準(zhǔn):Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBB/PBDE溴、 Cr鉻、Cl氯；
RoHS2.0標(biāo)準(zhǔn)：Pb鉛、Cd隔、Hg汞、PBB/PBDE溴、 Cr鉻、DEHP、DBP、BBP、DIBP
EN71標(biāo)準(zhǔn): 八大重金屬-Pb鉛、Cd隔、Hg汞、Cr鉻、As砷、Se硒、Sb銻、Ba鋇；
EN71新標(biāo)準(zhǔn)；重金屬19項(xiàng)（測(cè)當(dāng)中的15種元素）；
鍍層厚度：鍍銅、鎳、鉻、銀、金…不銹鋼、銅合金成份分析：銅、鋅、鎳、鉛、錫、鐵、鉻、錳、…
rohs無(wú)鹵測(cè)試儀XRF-W7的*優(yōu)勢(shì)：
1.智能的軟件，可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度；
2.提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái),可為每家用戶量身定做專屬的有害物質(zhì)檢測(cè)和控制方案；
3.融合了一系列*的光譜處理方法，軟件算法，讓測(cè)試結(jié)果更精準(zhǔn)。
4.XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性
5.可根據(jù)用戶要求自行定制測(cè)試報(bào)告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計(jì)及格式要求。
6.測(cè)試數(shù)據(jù)的分級(jí)管理，內(nèi)含管理員及多個(gè)操作員權(quán)限，有利于進(jìn)一步加強(qiáng)測(cè)試數(shù)據(jù)的嚴(yán)肅性及質(zhì)量品控的可靠性。
7.可以提供六價(jià)鉻定量測(cè)試技術(shù)與附件、鍍層測(cè)厚和多元素分析軟件。
1、無(wú)需對(duì)樣品做前期處理，簡(jiǎn)單、方便、快捷地實(shí)現(xiàn)貴重金屬的無(wú)損檢測(cè)。
2、具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的探測(cè)器保護(hù)裝置，能限度保護(hù)探測(cè)器，延長(zhǎng)其使用壽命，降低客戶使用成本。
3、自主研發(fā)的自動(dòng)選擇校準(zhǔn)曲線功能，保證貴金屬測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確可靠。
4、自主研發(fā)的形狀補(bǔ)償功能，能根據(jù)樣品的形狀大小，自動(dòng)實(shí)現(xiàn)形狀補(bǔ)償。
5、采用高清晰攝像頭對(duì)首飾進(jìn)行精確定位。
6、高精度數(shù)字多道采集系統(tǒng)，解決峰道漂移帶來(lái)誤差。
7、*的智能風(fēng)冷實(shí)現(xiàn)儀器冷卻的智能化。
8、集成工業(yè)計(jì)算機(jī)，采用一鍵式操作界面，操作靈活，使用方便，即學(xué)即會(huì)。
9、一鍵式打印功能，輕松實(shí)現(xiàn)測(cè)量報(bào)告打印。
rohs無(wú)鹵測(cè)試儀XRF-W7的相關(guān)參數(shù)：
測(cè)試原理：能量色散X射線熒光分析法
檢出限：≤2PPM
擴(kuò)展不確定度：≤0.19%
鍍層測(cè)量：鍍層厚度范圍<30um
濾光系統(tǒng)：3種復(fù)合濾光片任意組合
探測(cè)器：Si-Pin探測(cè)器(美國(guó)進(jìn)口)
分辨率：145ev±5
軟件：菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算
內(nèi)置電容觸摸LED屏：外置22寸顯示器
樣品種類：固體、粉末。顆粒、液體
元素測(cè)試范圍：從硫S-鈾U
測(cè)試時(shí)間：60S
內(nèi)置工控計(jì)算機(jī)：是
高壓器：0～50Kv(進(jìn)口)
溫度：-11～46℃
電壓：100～240V，50/60Hz
功率：150W
主體結(jié)構(gòu)：高強(qiáng)度金屬外殼
規(guī)格尺寸：670W×450H×350L（mm）
樣品腔尺寸：280x280x200mm
攝像定位系統(tǒng)：500萬(wàn)高清像素定位系統(tǒng)，靈活精準(zhǔn)定位
重量：38kg
RoHS無(wú)鹵測(cè)試儀XRF-W7技術(shù)參數(shù)
| 序號(hào) | 項(xiàng)目 | 技術(shù)參數(shù) |
| 1 | 元素分析范圍： | 從硫S-鈾U之間的元素 |
| 2 | 樣品樣式： | 固體、液體、粉末，均可直接檢測(cè) |
| 3 | 檢出限： | 2ppm |
| 4 | 測(cè)試時(shí)間： | 60s-200s(軟件自動(dòng)調(diào)整) |
| 5 | X射線源： | X射線光管（*） |
| 6 | X光管窗口材料： | 金屬鈹窗口 |
| 7 | X光管適用壽命： | 大于20000小時(shí) |
| 8 | 探測(cè)器： | 電制冷Si-Pin 探測(cè)器（美國(guó)進(jìn)口新一代Si-Pin 探測(cè)器） |
| 9 | 分辨率： | 145±5eV |
| 10 | 高壓電源： | 0-50kev，0-2mA |
| 11 | 高壓保護(hù)措施： | 過(guò)壓自保護(hù)，自恢復(fù) |
| 12 | 高清晰攝像定位系統(tǒng)： | 清晰、精準(zhǔn)、方便 |
| 13 | 集成工業(yè)計(jì)算機(jī)： | Windows7 操作系統(tǒng)（無(wú)需另外購(gòu)置電腦） |
| 14 | 準(zhǔn)直器： | 光斑φ1mm、3mm、4mm(軟件自動(dòng)選擇) |
| 15 | 工作環(huán)境溫度： | -11℃--46℃ |
| 16 | 工作環(huán)境相對(duì)濕度： | ≤85% |
| 17 | 輸入電源： | AC 220V±10%，50Hz(建議配置凈化穩(wěn)壓電源) |
| 18 | 額定功率： | 128W |
| 19 | 儀器尺寸： | 650mm*450mm*350mm |
| 20 | 樣品腔尺寸： | 280mm*280mm*200mm |
| 21 | 重量：約32Kg | 約33Kg |
