冷熱循環(huán)測試機與半導體高低溫沖擊試驗箱均是常用于半導體行業(yè)及半導體產(chǎn)品、材料、配件做在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在*短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化及物理傷害。
冷熱循環(huán)測試機技術參數(shù):
型號:2AP-TS-27 內(nèi)箱尺寸:300*300*300mm(寬*高*深)
型號:2AP-TS-50 內(nèi)箱尺寸:350*400*350mm(寬*高*深)
型號:2AP-TS-80 內(nèi)箱尺寸:400*500*400mm(寬*高*深)
型號:2AP-TS-150 內(nèi)箱尺寸:500*600*500mm(寬*高*深)
溫度范圍:-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃
測試室溫度范圍:-55℃~+150 ℃ (風冷式)
高溫室預熱溫度范圍:RT~+180℃
升溫時間:+50℃→+180℃ ≤40min
注:升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能
低溫室預冷溫度范圍:RT~-65℃
降溫時間:RT~-65℃ ≤90min
注:升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能
溫度波動度:±0.5℃
溫度偏差:±2.0℃
溫度恢復時間:≤5min;轉換溫度只需要≤10s(吊籃移動時間:3秒以內(nèi))
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