ZDS4000系列 — 數(shù)據(jù)挖掘型示波器
什么是數(shù)據(jù)挖掘型示波器？
捕獲512M海量的波形大數(shù)據(jù)，配合深層次數(shù)據(jù)挖掘能力，基于全觸屏和流暢的操作體驗，以一種全新的分析方式定位問題，這就是數(shù)據(jù)挖掘型示波器！
數(shù)據(jù)挖掘步：512M大數(shù)據(jù)存儲
存儲深度等于采樣率乘以采樣時間，512M大存儲深度，長時間捕獲波形，依然不會出現(xiàn)波形失真。
不同存儲深度下的采樣率和時間檔位對應(yīng)表
| 波形時間檔位 | 512M存儲下的采樣率 | 10M存儲下的采樣率 | 2M存儲下的采樣率 |
|---|---|---|---|
| 5ms/div | 4G Sa/s | 200M Sa/s | 40M Sa/s |
| 50ms/div | 500M Sa/s | 20M Sa/s | 4M Sa/s |
| 500ms/div | 50M Sa/s | 2M Sa/s | 400K Sa/s |
數(shù)據(jù)挖掘第二步：1M刷新率異常捕獲
波形刷新率越高，死區(qū)時間就越短。ZDS4000系列示波器，標配1M次波形刷新率，配合模板觸發(fā)，讓您概率的發(fā)現(xiàn)并捕獲異常信號。
不同刷新率對應(yīng)的異常捕獲時間
注：以上條件為4GSa/s采樣率，10ns/div，錯誤檢出的概率99.9%。
數(shù)據(jù)挖掘第三步：參數(shù)測量
不同于傳統(tǒng)示波器只測一個周期，或通過抽樣減少數(shù)據(jù)量再測量的模式，ZDS4000系列示波器通過FPGA全硬件并行處理，基于原始采樣率和512Mpts全存儲深度，對每一幀波形每一周期進行測量統(tǒng)計，僅需約1秒即可實現(xiàn)對512Mpts數(shù)據(jù)的“真正意義”參數(shù)測量，測試項目可達53種，并且支持24種參數(shù)同時顯示。這與傳統(tǒng)意義示波器的測量有著本質(zhì)的區(qū)別，也是示波器測試手段與測試方法的突破。
數(shù)據(jù)挖掘第四步：波形搜索與智能標注
ZDS4000系列示波器不只提供了512M的波形大數(shù)據(jù)，還配有強大的波形搜索功能和智能標注功能。您可以先通過邊沿、脈寬、欠幅、上升/下降時間、周期/頻率等多種搜索條件來定位512Mpts波形數(shù)據(jù)中的異常點，再對找出的異常信號使用標注功能，對異常信號進行標注。這里，所有的測量都是經(jīng)過FPGA全硬件加速，整個過程1S左右即可完成。再對找出的異常信號使用標注功能，對異常信號進行標注。
分析插件與特色功能
時序分析
ZDS4000系列示波器免費標配時序分析功能，支持自定義參數(shù)配置對I2C、I2S、SPI、MIPI-RFFE、CAN、Reset、Switch進行分析處理。自動分析多個波形中最差情況是否滿足標準，可直接篩選某個特定節(jié)點并直接生成附帶截圖的報告。
環(huán)路測試
致遠電子 ZDS4000系列示波器支持環(huán)路測試分析軟件。相對于幾十萬的專業(yè)環(huán)路分析儀器，內(nèi)嵌的環(huán)路測試分析軟件不僅有完善的環(huán)路測試方法和精準的測量精度， 并且對測試操作和用戶體驗進行了創(chuàng)新性地設(shè)計。
以太網(wǎng)分析
數(shù)據(jù)挖掘型示波器支持百兆以太網(wǎng)分析軟件，它是一款能夠自動測試以太網(wǎng)100Base-TX 標準的信號特性的插件。它能夠在短時間內(nèi)完成信號眼圖，傳輸特性等分析，并與標準協(xié)議參數(shù)做對比，給出信號測試結(jié)果（Pass/Fail）。
電源分析
開關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測試項目多，計算量大，統(tǒng)計繁瑣等問題一直困擾著工程師們，為了解決這些問題，致遠電子在示波器中增加開關(guān)損耗、SOA、電感測試等電源分析功能。如在電感測試功能中可直接對電感、有功功率等項目進行計算，方便工程師快速、準確地測試電源產(chǎn)品。
