半導體技術的一個重要目標是減少構成所有半導體器件中，晶體、多晶和非晶層中固有的和由工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷導致陷阱的產(chǎn)生，陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅５?，陷阱也能極大地改變設備的性能。深能級瞬態(tài)光譜(DLTS)是現(xiàn)在一種非常通用的技術，用于測定與陷阱相關的幾乎所有參數(shù)，包括密度、熱界面（熱發(fā)射率）、能級和空間剖面。
主要特點
●快速而靈敏地檢測半導體中的電活性缺陷
●高靈敏度：體陷阱檢測限< 109 atoms/cm3；
●具有低至3微秒的快速響應時間
●具有對過載的快速恢復能力以及對泄露電流的高免疫能力
●快速溫度掃描能力：每8分鐘100K且不影響靈敏度
●高達60dB的背景電容抑制能力度
●數(shù)字采集包括：16位分辨率，1毫秒的采樣增量，50倍的時間跨度，和不限平均點數(shù)的平均瞬態(tài)
●單次溫度掃描可同時記錄不同發(fā)射率窗下的8幅譜圖
主要應用
●PN結 ●肖特基二極管
●MOS管 ●LED
●場效應管 ●半導體激光器
●高電阻率半絕緣材料
| 產(chǎn)品名稱 | 參考價 | 地區(qū) | 公司名稱 | 更新時間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 艾德克斯ITECH 微功耗量測以及材料研究精密源表 IT2805 200V1.5A20W | 面議 | 深圳市 | 深圳市賽儀歐電子有限公司 | 2024-12-26 | 在線詢價 |
| 自動測量圖像尺寸設備 | ￥560000 | 深圳市 | 深圳市中圖儀器股份有限公司 | 2024-08-11 | 在線詢價 |
| 羅卓尼克USB接口水活性快速測量探頭 | 面議 | 無錫市 | 無錫徽科特測控技術有限公司 | 2024-07-09 | 在線詢價 |
| 高通量實時熒光檢測分析系統(tǒng) | 面議 | 上海市 | 美谷分子儀器（上海）有限公司 | 2024-02-28 | 在線詢價 |
| 激光功率測量系統(tǒng) LPMS | 面議 | 上海倍藍光電科技有限公司 | 2024-04-23 | 在線詢價 | |
| 水分活度測量儀廠商 | 面議 | 常州市 | 常州金壇泰納儀器廠 | 2024-08-29 | 在線詢價 |
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