X-MET8000:快速可靠的法規(guī)遵從性篩查。
除了日立的臺(tái)式分析儀之外,手持式X-MET8000XRF光譜儀還針對(duì)許多法規(guī)指令 (包括RoHS、CPSIA、ELV和EN71-3)提供快速、無(wú)損的篩選。輕便易用的X-MET會(huì)在幾秒鐘內(nèi)給出結(jié)果。
X-MET8000具備的優(yōu)點(diǎn):輕巧易用,獲取結(jié)果只需幾秒
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測(cè)
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測(cè)
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測(cè)厚
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古
手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測(cè)
X-MET8000 Expert | X-MET8000 Optimum | X-MET8000 Smart |
X射線管:50kV | X射線管:40kV or 50kV | X射線管:40kV |
濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器 | 濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器 | 濾光片:?jiǎn)我?/td> |
檢測(cè)器:大面積 SDD | 檢測(cè)器:大面積 SDD | 檢測(cè)器:大面積 SDD |
樣本溫度:100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選) | 樣本溫度:100oC 或通過(guò) HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選) | 樣本溫度:400oC |
符合 IP54 等級(jí) | 符合 IP54 等級(jí) | 符合 IP54 等級(jí) |
Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞 | 可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù) | Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞 |
校準(zhǔn)方法:自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(可進(jìn)行追溯) | 校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析) | 校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP) |
內(nèi)置攝像頭 | 內(nèi)置攝像頭 (可選) | 內(nèi)置攝像頭 (可選) |
小光班準(zhǔn)直器(可選) | 小光班準(zhǔn)直器(可選) | |
針對(duì)所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片 | 針對(duì)所有元素(從鎂到鈾)進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片 |