ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)接受測試頭,這些測試頭可在諸如絕緣柵雙極晶體管(IGBT),功率MOSFET,二極管和其他雙極器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無損瞬態(tài)測量(需要其他可選的偏置電源和定制個性化板)。大型機(jī)中包括分析和執(zhí)行電阻和電感開關(guān)時間,開關(guān)損耗,柵極電荷,Trr / Qrr和其他瞬態(tài)測試所需的所有測試設(shè)備和軟件。
專為特定類型的瞬態(tài)測試設(shè)計的測試頭與主機(jī)上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執(zhí)行一項特定的測試,但每個測試頭中的個性化板都會針對特定的設(shè)備,設(shè)備封裝和各種設(shè)備電路布置重新配置測試頭。
測試頭
?ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關(guān)時間,MIL-STD-750,方法3472
?ITC57220-功率MOSFET和二極管的Trr / Qrr,MIL-STD-750,方法3473
?ITC57230-功率MOSFET的柵極電荷,MIL-STD-750,方法3471
?ITC57240 IGBT的電感性開關(guān)時間,MIL-STD 750,方法3477
?ITC57250短路(Isc)耐受時間,MIL-STD 750,方法3479
?ITC57260-功率MOSFET的柵極電阻(Rg),輸入電容(Ciss),輸出電容(Coss)和反向電容(Crss),JEDEC標(biāo)準(zhǔn)JESD24-11