是一家立足華東，以拓展全國(guó)市場(chǎng)為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司，下設(shè)三個(gè)事業(yè)部和一個(gè)中心，即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項(xiàng)目部、以及中禹聯(lián)重檢測(cè)技術(shù)中心。
軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過(guò)組合新開(kāi)發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了*的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢測(cè)，并且能以0.3eV(費(fèi)米邊處Al-L基準(zhǔn))的*能量分辨率進(jìn)行分析，超過(guò)了WDS的能量分辨率。
性能特點(diǎn)
產(chǎn)品規(guī)格
能量分辨率0.3eV（Al-L 光譜圖73eV處測(cè)試）
獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)50-170eV
獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)70-210eV
分光譜儀艙安裝位置：
EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右側(cè)）
FE-SEM的WDS接口（正面左后側(cè)）
分光譜儀尺寸 W 168mm×D 348mm ×H 683mm
* 從接口包括CCD的距離
分光譜儀重量 25kg
適用機(jī)型
EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F
應(yīng)用領(lǐng)域
電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析，可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過(guò)程不損壞樣品、測(cè)量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益**地應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。
