德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400
產(chǎn)品名稱：新型高精度涂層測厚儀
規(guī)格型號：MiniTest 7400
品牌廠家：德國EPK
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 產(chǎn)品介紹：
創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理，讓新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。其產(chǎn)品優(yōu)勢有：
• 所有金屬基材上的非破壞性測量
• 多種圖形顯示選項(xiàng)
• 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
• 用于簡易配置評估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
• 測量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
• SIDSP®技術(shù)提升精確度和重現(xiàn)性
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 探頭介紹：
MiniTest 7400 探頭的適應(yīng)性：
有色金屬的導(dǎo)電性可能會(huì)有所不同。對這些基體使用自動(dòng)補(bǔ)償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測量各種幾何形狀的樣品?？梢詫Σ灰?guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。
→ 種類繁多的可換探頭，滿足各種應(yīng)用要求?？梢酝ㄟ^推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。
→ 兩用型FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體材料。探頭與被測物表面接觸后，儀器自動(dòng)切換到合適的測量原理。因此，應(yīng)用錯(cuò)誤會(huì)被淘汰，加快了測量進(jìn)程。
MiniTest 7400 探頭設(shè)計(jì)選擇：
不同的線纜插口類型更加靈活，來適應(yīng)測試要求。每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計(jì)，后者可以測量難以進(jìn)入的類似管和中空零件。
由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供*終保護(hù)，MiniTest 7400提供了一個(gè)特制的堅(jiān)固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護(hù)探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。
對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 探頭技術(shù)參數(shù)及特點(diǎn)：
1.多點(diǎn)校準(zhǔn),在實(shí)驗(yàn)室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)
2.零點(diǎn)校準(zhǔn)，并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架，不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點(diǎn)校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的數(shù)據(jù)
7.包括涂層
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 主機(jī)技術(shù)參數(shù)和基本配置：
● 主機(jī)技術(shù)參數(shù)：
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)：500
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量：約250，000個(gè)讀數(shù)
統(tǒng)計(jì)值(每批組)：讀數(shù)個(gè)數(shù)，*大值，*小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)，過程能力指數(shù)CP和CPK，直方圖，趨勢圖
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范：ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)等
校準(zhǔn)模式：*多5點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控：聲音、視覺報(bào)警提示超過極限值
測量單位：μm，mm，cm，mils，inch，thou
操作溫度：–10℃ … 60℃；14℉ … 140℉
存放溫度：–20℃ … 70℃；-4℉ … 158℉
數(shù)據(jù)接口： IrDA® 1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器
電源：4節(jié)AA (LR06型)電池，或可選外接電源(90–240 V～/ 48–62 Hz)
規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840，AS3894；SS 184160，SSPC-PA 2，IMO-PSPC，ASTM B 244，B 499，D 7091，E376
顯示：160 x 160像素 LCD 帶背光
尺寸：153 mm x 89 mm x 32 mm；6 inch x 3.5 inch x 1.3 inch
重量：310 g；11 oz。(主機(jī)包括電池)
● 基本配置：
主機(jī):
MiniTest 7400、MSoft 7*軟件、德文/英文/法文/西班牙文操作說明、速查卡、4節(jié)AA電池，LR06型、塑料手提箱
探頭:
可選SIDSP®探頭包括證書、校準(zhǔn)用校準(zhǔn)箔和零基板
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 可選配件：
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 新概念優(yōu)勢詳細(xì)解讀：
直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機(jī)幫助，使用簡易。
大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。
大背光圖形顯示頻提供的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。
配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置，無需*技能，也可在*短的時(shí)間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。
*的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。
除了數(shù)字顯示讀數(shù)，層次清楚的顯示統(tǒng)計(jì)值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計(jì)值。
錯(cuò)誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯(cuò)誤的統(tǒng)計(jì)值。
龐大的數(shù)據(jù)儲(chǔ)存器為必要的數(shù)據(jù)管理，可保存高達(dá)500批組的250,000個(gè)讀數(shù)。
為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達(dá)到5點(diǎn)校準(zhǔn)（包括零點(diǎn)）。
預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標(biāo)準(zhǔn)。 此外，延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測量。
為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出，標(biāo)準(zhǔn)配置包括計(jì)算機(jī)軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點(diǎn)：測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報(bào)告中。
配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個(gè)多用接線盒可用來作為一個(gè)USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報(bào)器。對于單個(gè)裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。模擬信號處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®技術(shù)優(yōu)勢明顯：
EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動(dòng)化校準(zhǔn)過程，而且每個(gè)探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。的精密生產(chǎn)過程使得每個(gè)探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。
重現(xiàn)性：
讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是*普遍的導(dǎo)致誤差的根源，所以保護(hù)測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號?；貍鞯男盘栔苯舆M(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有的抗力。
EPK 的SIDSP®探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點(diǎn)測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。
生產(chǎn)過程：
在生產(chǎn)過程中，SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準(zhǔn)程序，探頭在特征曲線上高達(dá)50個(gè)點(diǎn)進(jìn)行校準(zhǔn)，如此多個(gè)點(diǎn)的校準(zhǔn)使得特征曲線在整個(gè)量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被儲(chǔ)存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產(chǎn)過程中，探頭的溫度性能地決定整個(gè)工作溫度范圍。這樣，每個(gè)探頭都可以獨(dú)立調(diào)整溫度補(bǔ)償，在任何溫度即使溫度大幅度變動(dòng)，特征曲線仍可保持其精確度。
