暴露中的一部分是基于照明設(shè)備和人之間的電容耦合。這將誘發(fā)必須使用 EMI 接收機(jī)和 Van Der Hoofden 測(cè)試頭進(jìn)行測(cè)量和評(píng)估的電流密度。
在 Van Der Hoofden 測(cè)試頭由三個(gè)要素組成:一個(gè)直徑為 210mm 的導(dǎo)電球,300mm 長(zhǎng)的連接線和一個(gè) EMI 接收機(jī)的保護(hù)網(wǎng)絡(luò)。測(cè)試頭配備有 M6 內(nèi)螺紋??梢园惭b在一個(gè)帶高度調(diào)節(jié)的絕緣桅桿系統(tǒng)上。
EMI 接收機(jī)測(cè)量橫跨 50 Ohm 電阻的電壓。必須連接至桅絞鏈的 BNC 連接器。要確定發(fā)光體是否符合標(biāo)準(zhǔn),必須將所測(cè)得的電壓轉(zhuǎn)換成感應(yīng)電流密度。測(cè)得的密度必須使用所允許的密度進(jìn)行表示,然后將其求和。其結(jié)果是被稱為F.A DUT 的因數(shù),如果 F 不超過(guò) 0.85,則稱其符合標(biāo)準(zhǔn)。