7-CRD CCD光電性能測量系統(tǒng)
CCD光電性能測量系統(tǒng)又稱CCD成像電子學(xué)系統(tǒng)光電聯(lián)試定量測試設(shè)備。
本系統(tǒng)能夠解決空間光學(xué)遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設(shè)計及輻射校正設(shè)計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學(xué)問題；同時能夠在業(yè)界對光電成像器件抗輻射性能評價的標準化和規(guī)范化起到積極推進作用。
技術(shù)參數(shù)：
1、工作波段：380nm~1000nm（其他波長范圍可選）；
2、動態(tài)范圍：≥80dB;
3、光譜分辨率：≤0.5nm；
4、峰值波長（測量精度）：優(yōu)于±1nm；
5、中心波長（測量精度）：優(yōu)于±1.2nm;
6、光譜帶寬：（測量精度）：優(yōu)于2nm；
7、相對光譜響應(yīng)度（測量精度）：優(yōu)于2%；
8、有效測量區(qū)域：≤φ120mm；
9、暗噪聲：優(yōu)于±0.5mv；
10、信噪比（測量精度）：優(yōu)于±5dB；
11、飽和輸出電壓（測量精度）：優(yōu)于±20mV；
12、響應(yīng)非均勻性（測量精度）：優(yōu)于1%；
13、響應(yīng)非線性（測量重復(fù)性）：優(yōu)于2%；
14、噪聲等效曝光量（測量精度）：優(yōu)于2%；
15、光輻射響應(yīng)度（測量精度）：優(yōu)于2%。
