- 一個緊湊的單元中綜合了如下功能:精密電壓源、高精度電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負(fù)載以及觸發(fā)控制器
- 接觸檢測功能確保了高速及準(zhǔn)確的測量
- 每秒10,000個讀數(shù)和5,500個源-測量點記錄到存儲器,提供了更快速的測試
- 內(nèi)置的測試腳本處理器(TSP™)提供非并行系統(tǒng)的自動化測試,將I-V測試的速度提高到同類產(chǎn)品的二到四倍
- 2600系列提供寬動態(tài)范圍:1pA到10A,1μV到200V
- TSP-Link™主/從控制架構(gòu)將多臺2600數(shù)字源表無縫地整合成一個系統(tǒng),將其作為一立的儀器進(jìn)行編程和控制
- 免費的測試腳本編輯軟件--Test Script Builder,可以輕松地創(chuàng)建功能強(qiáng)大的測試腳本,實現(xiàn)用戶特定的測試功能
- 免費的LabTracerTM2.0 軟件,無需編程直接得到半導(dǎo)體I-V 特性曲線,易學(xué)易用
- 每個40W,3A的通道都是獨立的,從而保證了高度的測量完整性和配置的靈活性
- 業(yè)界的SMU機(jī)架密度特別適合自動化測試的應(yīng)用
2600系列數(shù)字源表系列給電子元器件和半導(dǎo)體制造商提供了一個靈活的、高效的、性價比的方案,適合于精確DC、脈沖和低頻AC的源-測量測試?;谧畛?400系列數(shù)字源表的緊湊集成源-測量技術(shù),2600系列儀器在I-V測試應(yīng)用中 能夠提供相當(dāng)于同類產(chǎn)品的二到四倍的測試速度。它們還具備更高的源測量通道密度并且比同類產(chǎn)品顯著地降低了使用成本。的模數(shù)轉(zhuǎn)換器在小于100μs的時間內(nèi) 可同時提供I和V測量值 (10,000 讀數(shù)/s),源-測量掃描速度為200μs每點 (5,500 點/s)。這種高速的源-測量能力加上*的自動化特性及軟件工具使得2600系列數(shù)字源表系列成為廣泛用于多種器件I-V測試的理想方案。
相關(guān)應(yīng)用:
•對多種器件進(jìn)行I-V函數(shù)測試和特性分析,包括:
- 分立的和無源的元器件
- 雙引腳 - 電阻、盤驅(qū)動器頭、金屬氧化物變阻器(MOV)、二極管、齊納二極管、傳感器、電容器、熱敏電阻
- 三引腳 - 雙極型小信號晶體管(BJT)場效應(yīng)晶體管(FET)等
- 并行測試 – 雙引腳、三引腳元器件陣列
- 簡單集成電路 – 光學(xué)、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感器
- 模擬IC
- 射頻集成電路(RFIC)
- 應(yīng)用定制的集成電路
- 系統(tǒng)級芯片(SOC)器件
上述器件的研發(fā)和特性分析