MIC 10DL 運(yùn)用 UCI 法（超聲波接觸阻抗，根據(jù)ASTM A 1038進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化），能夠迅速而便捷地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。對(duì)材料表面的鉆石壓頭進(jìn)行電子測(cè)量和即時(shí)顯示，無(wú)需傳統(tǒng)硬度計(jì)通常使用的累贅的光學(xué)評(píng)估。
產(chǎn)品特點(diǎn)
超聲波接觸阻抗法（UCI）進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試
• 根據(jù)ASTM A 1038進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化
• 探頭測(cè)試負(fù)荷為1N (HV0.1) 到 98N (HV10)
• 可自動(dòng)換算為不同的硬度標(biāo)準(zhǔn)和張力強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)
• 可顯示單個(gè)測(cè)量值或一系列測(cè)試的平均值
• 數(shù)據(jù)記錄器具有測(cè)量數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置的內(nèi)部數(shù)據(jù)
存儲(chǔ)功能
運(yùn)用
小巧輕便的MIC 10DL基本上能適用于任何地方 – 可以在為測(cè)試大型容器和管道而搭建的臨時(shí)支架使用，也可以測(cè)試處于任何位置的元件。UCI原理尤其適合測(cè)試大小形狀不等的紋理精細(xì)的材料以及熱處理表面。小巧精細(xì)的探頭能夠?qū)χT如齒面和齒輪根部等難以觸及的位置進(jìn)行測(cè)量。導(dǎo)向裝置和導(dǎo)向架能幫助進(jìn)行精密焊接測(cè)試（HAZ）。
MIC 10 運(yùn)用 UCI 法（超聲波接觸阻抗，根據(jù)ASTM A 1038進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化），能夠迅速而便捷地進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試。對(duì)材料表面的鉆石壓頭進(jìn)行電子測(cè)量和即時(shí)顯示，無(wú)需傳統(tǒng)硬度計(jì)通常使用的累贅的光學(xué)評(píng)估。
產(chǎn)品特點(diǎn)
超聲波接觸阻抗法（UCI）進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)硬度測(cè)試
• 根據(jù)ASTM A 1038進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化
• 探頭測(cè)試負(fù)荷為1N (HV0.1) 到 98N (HV10)
• 可自動(dòng)換算為不同的硬度標(biāo)準(zhǔn)和張力強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)
• 可顯示單個(gè)測(cè)量值或一系列測(cè)試的平均值
• 數(shù)據(jù)記錄器具有測(cè)量數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置的內(nèi)部數(shù)據(jù)
存儲(chǔ)功能
運(yùn)用
小巧輕便的MIC 10基本上能適用于任何地方 – 可以在為測(cè)試大型容器和管道而搭建的臨時(shí)支架使用，也可以測(cè)試處于任何位置的元件。UCI原理尤其適合測(cè)試大小形狀不等的紋理精細(xì)的材料以及熱處理表面。小巧精細(xì)的探頭能夠?qū)χT如齒面和齒輪根部等難以觸及的位置進(jìn)行測(cè)量。導(dǎo)向裝置和導(dǎo)向架能幫助進(jìn)行精密焊接測(cè)試（HAZ）。
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