焊縫檢測(cè)
豐富的缺陷位置顯示：聲程、水平距離、深度位置和跨距編號(hào)等。
多重DAC曲線間距可單獨(dú)調(diào)節(jié)，滿足各種標(biāo)準(zhǔn)要求。
的彩色半跨距顯示，跟部缺陷判斷一目了然。USM33探傷儀USM33探傷儀
精密厚度測(cè)量
可根據(jù)每一個(gè)回波信號(hào)的波峰值精準(zhǔn)地測(cè)量聲程差，分辨率高達(dá)0.01mm。
腐蝕壁厚測(cè)量
采用雙晶探頭檢測(cè)受腐蝕工件的壁厚，可以同時(shí)顯示讀數(shù)和A掃描顯示，*增強(qiáng)了檢測(cè)可靠性。
鍛壓件的檢測(cè)
檢測(cè)細(xì)小晶粒工件和大型工件時(shí)，可以優(yōu)化設(shè)置脈沖重復(fù)頻率，以消除幻影波形。
特種材料的檢測(cè)
采用低至500kHz的低頻探頭，可穿透高衰減材料和復(fù)合材料。將USM33探傷儀配合BENCHMARK COMPOSITE®復(fù)合材料晶片探頭使用，在對(duì)聲散強(qiáng)的材料（玻璃、碳纖維增強(qiáng)塑料、復(fù)合材料或者合金）進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，性噪比有顯著的提高。
超聲波探傷儀USM33技術(shù)參數(shù)
檢測(cè)范圍 | *?。?～0.5mm+10%(鋼) *大：0～9999mm+10%(鋼) 0.5～20MHz自由匹配 1000～15000m/s，1m/s步進(jìn)連續(xù)可調(diào) -10～1000mm 0～200us 通過(guò)兩個(gè)已知參考回波自動(dòng)校準(zhǔn)聲速和探頭延遲 200pF/1nF 50Ω、500Ω、1000Ω(在雙晶探頭) 自動(dòng)優(yōu)化設(shè)置 0～110dB連續(xù)可調(diào) 0.5/1/2/6/12dB RF/全波/正/負(fù)半波整流 兩個(gè)獨(dú)立的閘門(mén)，起點(diǎn)和寬度在整個(gè)范圍可調(diào)，報(bào)警門(mén)限為10～90%顯示器高度在1%段內(nèi)可調(diào)節(jié)，報(bào)警信號(hào)通過(guò)LED或蜂鳴器報(bào)警器，通過(guò)閘門(mén)控制波形放大范圍 0～99.99mm時(shí)為0.01mm 100～999.9mm時(shí)為0.1mm 1000mm以上為1mm，通過(guò)A掃描圖像評(píng)估:0.5%的調(diào)節(jié)范圍 屏幕高的%比顯示USM33的DAC dB 聲程，距離，深度，閘門(mén)內(nèi)放大顯示，用戶自定義4點(diǎn)測(cè)量值一行同時(shí)顯示，A掃描圖像放大顯示可以自由設(shè)置 手動(dòng)或自動(dòng)A掃描，回波可通過(guò)包洛線動(dòng)態(tài)顯示 背景、波形、閘門(mén)、曲線和報(bào)警數(shù)值 距離-振幅-曲線(DAC)*多10個(gè)參考回波，距離通過(guò)增益可調(diào)的4條附加曲線， 116x87mm，320x240象素 116mmx80mm，320x220象素 毫米或英寸 200條儀器設(shè)置參數(shù)，能夠存儲(chǔ)A掃描圖像，并能夠調(diào)用或輸出到計(jì)算機(jī) 通過(guò)英文或中文顯示字幕，并通過(guò)文件存儲(chǔ)A掃描圖像，測(cè)量數(shù)據(jù)和參數(shù)設(shè)置 HP DJ 1200(DeskJet)、HP LJ1012(LaserJet)、EPSON FX/LX、SEIKO DPU 通過(guò)RS 232接口跟計(jì)算機(jī)通訊 可外接顯示器 2xLemo 1或BNC接口 中文、英語(yǔ) 鋰電池，可連續(xù)使用8小時(shí)，能夠?qū)崟r(shí)顯示鋰電池電池電量狀態(tài) 通過(guò)外部供電(85-265V交流)；操作電壓： 6～12V直流；功率: *大9W，與調(diào)整值有關(guān) 0～60℃ 177mmx230mmx76mm 1.8Kg(包括電池 |
