測量原理：
雷達物位計通過天線發(fā)射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空間傳輸，遇到被測介質(zhì)發(fā)生反射，反射信號被儀表接收，發(fā)射脈沖信號與接收脈沖信號的時間間隔與基準面到被測介質(zhì)表面的距離成正比，通過測量發(fā)射與接收的時間間隔，來實現(xiàn)天線至介質(zhì)表面距離的測量。
①時間1：產(chǎn)生初始脈沖
②時間2：沿喇叭天線向下行進，速度C（光速）
③時間3：脈沖遇到介質(zhì)表面發(fā)生反射
④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄
⑤脈沖信號從被發(fā)射到被接收之間的時間差T，與基準面到介質(zhì)表面的距離D成正比：D=C×T/2
⑥測量的基準面是： 螺紋底面或法蘭的密封面
⑦ A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲區(qū)
⑧運行時，保證料位不能進入測量盲區(qū)D
技術(shù)優(yōu)勢：
采用高達26GHz的發(fā)射頻率
高頻率與信噪比，是低介電常數(shù)介質(zhì)的合適選擇
波束角小，能量集中，具有更強抗力，大大提高了測量精度與可靠性
測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得優(yōu)異效果
波長更短，對于小顆粒介質(zhì)與傾斜的介質(zhì)表面的物位測量效果更好
測量靈敏、刷新速度快、天線尺寸小、安裝簡便、牢固耐用、免維護
非接觸式測量，無磨損，無污染，可測量液體，固體介質(zhì)的物位
幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復(fù)雜工況的影響
采用兩線制回路供電的技術(shù)，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)省成本
采用*微處理器和回波處理技術(shù)，可適用于各種復(fù)雜工況
發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體環(huán)境均無傷害
帶有按鍵的顯示屏可方便設(shè)置儀表的參數(shù)
可應(yīng)用的行業(yè)：化工與石化、電力、 鋼鐵及冶金、 礦產(chǎn)、造紙及紙漿、水及污水、食品與飲料、 制藥 。
可應(yīng)用的工況：中間料倉、儲倉、料斗、儲罐、過程罐、攪拌罐、其他。
主要參數(shù)：
應(yīng) 用： 固體顆粒、粉塵
頻率范圍： 26GHz
測量范圍： 0-30m
精 度： ±10mm
介質(zhì)溫度： -40...250℃
過程壓力： -0.1...4.0Mpa
過程連接： 螺紋、法蘭
防爆等級： Exia II CT6;Exd II CT6
防護等級： IP67
信號輸出： 4...20mA/HART（兩線/四線）
RS485/Modbus
