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北京博宇訊銘科技有限公司
美爾諾電子負(fù)載、可編程電源，遠(yuǎn)方功率分析儀、變頻電源，金科LCR測(cè)試儀，美瑞克安規(guī)測(cè)試儀
一級(jí)總代
1、生產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室提供穩(wěn)壓電源，編程電源，變頻電源
2、為電源電池檢測(cè)生產(chǎn)企業(yè)提供電子負(fù)載，可編程電源配套設(shè)備
3、為維修、生產(chǎn)企業(yè)提供電子測(cè)量?jī)x器、安規(guī)檢測(cè)儀器、元器件分選儀器
4、為維修、加工生產(chǎn)企業(yè)及個(gè)體提供焊臺(tái)風(fēng)槍
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五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、 層間短路、 直流電阻)
耐壓測(cè)試(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接觸檢查
絕緣電阻測(cè)試(IR) : 5kV
繞線元件脈沖測(cè)試 (IWT)
-脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz)
直流電阻測(cè)試 - 10通道四線直流電阻測(cè)試 /-Δ型/Y型馬達(dá)繞線電阻計(jì)算
支援40通道掃描測(cè)試
繁中 / 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
USB波形儲(chǔ)存& 畫面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN, USB, RS232介面
GFI人體保護(hù)電路
19036與C h r o m a其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有 Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試*的檢視項(xiàng)目之一。
19036與C h r o m a其他安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有 Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試*的檢視項(xiàng)目之一。
部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測(cè)試以提升生產(chǎn)檢測(cè)速度，但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無(wú)法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至后測(cè)站另加進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。
19036系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物，可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測(cè)品質(zhì)佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測(cè)試以提升生產(chǎn)檢測(cè)速度，但并聯(lián)測(cè)試時(shí)，無(wú)法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至后測(cè)站另加進(jìn)行測(cè)試，增加站數(shù)及成本。
19036系列提供次測(cè)項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測(cè)試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測(cè)項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測(cè)試于主測(cè)項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會(huì)進(jìn)行次測(cè)項(xiàng)測(cè)試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測(cè)物，可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測(cè)品質(zhì)佳化。
例 : Step 1 : AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1 : AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2 : AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3 : AC Hipot / pin1 to pin7
所謂的''繞線元件脈沖測(cè)試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測(cè)出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。
所謂的''繞線元件脈沖測(cè)試''基本上是以一''非破壞性''、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。
四種判定模式
g 波形面積比較 (AREA SIZE)
g 波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA)
g 波形顫動(dòng)偵測(cè) (FLUTTER DETECTION)
g 波形二階微分偵測(cè) (LAPLACIAN DETECTION)
以二階微分演算，有效偵測(cè)出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。
| 產(chǎn)品名稱 | 參考價(jià) | 地區(qū) | 公司名稱 | 更新時(shí)間 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 吉時(shí)利 電學(xué)特性參數(shù)測(cè)試儀器 6517B靜電計(jì) 8009電阻率測(cè)試夾具 | 面議 | 深圳市 | 深圳市賽儀歐電子有限公司 | 2024-12-26 | 在線詢價(jià) |
| 高溫棒材絕緣電阻率測(cè)試儀 | ￥15514 | 北京市 | 北京中科微納精密儀器有限公司 | 2025-01-10 | 在線詢價(jià) |
| 高溫棒材絕緣電阻率測(cè)試儀 | ￥15514 | 北京市 | 北京冠測(cè)精電儀器設(shè)備有限公司 | 2025-01-09 | 在線詢價(jià) |
| 手持回路電阻測(cè)試儀 | ￥7000 | 揚(yáng)州市 | 揚(yáng)州海沃電氣科技發(fā)展有限公司 | 2024-09-09 | 在線詢價(jià) |
| JKZC-ZL600系列直流電阻測(cè)試儀 | ￥1111 | 北京市 | 北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司 | 2024-05-28 | 在線詢價(jià) |
| JBCZ-50A接地線成組電阻測(cè)試儀 | ￥8500 | 揚(yáng)州市 | 揚(yáng)州嘉寶電氣有限公司 | 2024-12-25 | 在線詢價(jià) |
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