供應(yīng)3672A,3672A,3672A,3672A,3672A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，廣東生總代理，可免費申請試用，歡迎！
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品包括3672A（10MHz～13.5GHz）、3672B（10MHz～26.5GHz）、3672C（10MHz～43.5GHz）、3672D（10MHz～50GHz）和3672E（10MHz～67GHz）。3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供頻響、單端口、響應(yīng)隔離、增強型響應(yīng)、全雙端口、電校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)方式，內(nèi)設(shè)對數(shù)幅度、線性幅度、駐波、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，外配USB、LAN、GPIB、VGA等多種標(biāo)準(zhǔn)接口，除具有傳統(tǒng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的全部測量功能外，還可以通過配置功能選件進行混頻器/變頻器、增益壓縮二維掃描以及脈沖狀態(tài)下S參數(shù)的多功能綜合參數(shù)測試，能精確測量微波網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性、相頻特性和群時延特性。該產(chǎn)品可廣泛應(yīng)用于發(fā)射/接收（T/R）模塊測量、介質(zhì)材料特性測量、微波脈沖特性測量和光電特性測量等領(lǐng)域，是雷達(dá)、通信、導(dǎo)航等系統(tǒng)的科研、生產(chǎn)過程中的測試設(shè)備。
功能特點
校準(zhǔn)類型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件
支持多窗口、多通道測量，快速執(zhí)行復(fù)雜測試方案
具有對數(shù)幅度、線性幅度、駐波、Smith圓圖等多種顯示格式
具有USB、GPIB、LAN和VGA接口
中/英文操作界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點觸控顯示屏
錄制/運行，一鍵式操作簡化測量設(shè)置步驟，提高工作效率
具有一體化脈沖S參數(shù)測量、時域測量、混頻器測量、增益壓縮二維掃描測量、支持THz擴頻、天線與RCS測量接收等功能
人性化用戶界面簡潔直觀，便于操作，可提高測試效率
校準(zhǔn)類型靈活可選，兼容多種校準(zhǔn)件
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀提供向?qū)?zhǔn)（自動化校準(zhǔn)）、非向?qū)?zhǔn)（使用機械校準(zhǔn)件進行直通響應(yīng)校準(zhǔn)、直通響應(yīng)與隔離校準(zhǔn)、單端口校準(zhǔn)、增強型響應(yīng)校準(zhǔn)、全雙端口SOLT校準(zhǔn)、TRL校準(zhǔn)）、電校準(zhǔn)（ECal）等多種校準(zhǔn)類型，可根據(jù)實際測試需要選擇同軸3.5mm校準(zhǔn)件以及電子校準(zhǔn)件等多種校準(zhǔn)件，方便不同接口類型器件的測試。
多窗口顯示所有測量通道
本產(chǎn)品具有多通道和多窗口顯示功能，*多支持64個通道，*多可同時顯示16個測量窗口，每個窗口*多可同時顯示8條測試軌跡，使觀測結(jié)果更加直觀，用戶使用更加方便。
錄制功能實現(xiàn)一鍵自動化測試
記錄用戶在使用儀器過程中所有操作步驟，同時可以隨時插入用戶編輯的提示對話框，并且準(zhǔn)時彈出提示對話框，等待用戶確認(rèn)，實現(xiàn)用戶交互功能，真正實現(xiàn)了智能儀器一鍵自動化功能。
大動態(tài)范圍
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用混頻接收的設(shè)計理念，有效擴展整機的測試動態(tài)范圍，可以滿足您對大動態(tài)范圍的測試需求。
外設(shè)接口豐富，靈活實用
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀采用兼容PC的嵌入式計算機模塊和Windows操作系統(tǒng)組成的軟硬件平臺，實現(xiàn)了測試儀器和個人計算機的結(jié)合。用戶可以利用豐富的I/O接口（包括GPIB、USB和LAN等）完成數(shù)據(jù)通訊的*佳選擇。
跡線噪聲小，測量精度高
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀優(yōu)異的跡線噪聲指標(biāo)*地提高了整機的測試精度，可滿足用戶精確測量的需要，特別有助于小插損器件的精確測量。（下圖以3672B為例）
典型應(yīng)用
時域分析可對設(shè)計進行全面表征
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可通過配置時域測量選件實現(xiàn)測量結(jié)果頻域和時域之間的切換，用以確定器件、夾具或者電纜中的不連續(xù)點位置，實現(xiàn)故障精確定位。
增益壓縮二維掃描，提高測試效率
放大器等有源器件的增益壓縮測量應(yīng)用（S86選件）僅需一次設(shè)置，一次連接，一次校準(zhǔn)就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數(shù)（包括壓縮點的輸入功率，壓縮點的輸出功率，壓縮點的增益等）和線性參數(shù)（包括線性增益，輸入匹配，輸出匹配等）。具有：
快速準(zhǔn)確的智能掃描；
一目了然的向?qū)?zhǔn)；
方便快捷的USB電子校準(zhǔn)，USB功率校準(zhǔn)；
二維掃描（頻率點掃功率和功率點掃頻率）一次完成；
多種壓縮方法——從線性/*大增益壓縮、從飽和態(tài)壓縮、回退法和X/Y法。
混頻器/變頻器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀四端口測量功能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內(nèi)置雙源，可以完成混頻器/變頻器標(biāo)量和矢量參數(shù)測試。
1）混頻器/變頻器標(biāo)量參數(shù)測量
混頻器/變頻器標(biāo)量測量應(yīng)用選件（S82選件）可以得到頻域的所有標(biāo)量參數(shù)（包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等）。相比以往測試方法其優(yōu)勢在于：
一次連接設(shè)置，多參數(shù)測試一次性完成；
人性化簡易的校準(zhǔn)界面；
方便快捷的USB電子校準(zhǔn)，USB功率校準(zhǔn)；
內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；
基于端口匹配的功率校準(zhǔn)技術(shù)；
為用戶解決高準(zhǔn)確度的混頻器標(biāo)量參數(shù)測試需求。
2）混頻器/變頻器矢量參數(shù)測量
矢量混頻/變頻器件測試應(yīng)用選件（S83選件）集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐波、相位及群時延等參數(shù)測量于一體的測試應(yīng)用軟件。其主要特點包括：
測量過程需使用一個參考混頻器進行表征；
內(nèi)置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；
測試參數(shù)全面，相比于標(biāo)量混頻器測試增加了相位及群時延等參數(shù)的測試功能。
濾波器測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有濾波器測試菜單，可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標(biāo)（包括帶寬，中心頻點頻率、Q值，左截止頻率、右截止頻率等）和阻帶指標(biāo)（包括動態(tài)范圍，隔離度等）。具有：
快速準(zhǔn)確的分段掃描；
一目了然的校準(zhǔn)向?qū)В?/p>
快捷的高精度電子校準(zhǔn)技術(shù)；
通帶和阻帶指標(biāo)一次測量完成。
一體化脈沖S參數(shù)測試
3672系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀具有脈沖調(diào)制信號輸出，可以完成脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測試。具有：
內(nèi)置四通道脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器，端口1、3可輸出脈沖調(diào)制信號；
完整的脈沖解決方案，可在寬帶模式和窄帶模式下進行脈沖內(nèi)定點、脈沖包絡(luò)和掃頻脈沖測量；
可與外部脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器同步，實現(xiàn)復(fù)雜脈沖同步測試。
自動化測試
通過GPIB總線接口、網(wǎng)口提供靈活多樣的控制方式，只需完成設(shè)備的互聯(lián)，發(fā)送命令即可。為您提供一體化自動測試方案，包括自動校準(zhǔn)、自動測量、自動讀取、自動打印等。具有：
簡單的控制方式，一根網(wǎng)線、一個GPIB卡；
有效的降低成本，解放有限的人力資源；
在有效的時間內(nèi)完成更多的測試，大大縮短開發(fā)周期；
完成人工不可能完成的任務(wù)，如精確時間控制，復(fù)雜環(huán)境下的測試等。
高速信號完整性測試
支持多端口Touchstone 格式的S參數(shù)導(dǎo)出，并且支持大端口數(shù)據(jù)導(dǎo)入
支持時域TDR 的快速測試與顯示
支持混合模S參數(shù)的快速定義和測試
方便設(shè)置差分對和設(shè)置串?dāng)_里的攻擊線和受害線，求取近端串?dāng)_和遠(yuǎn)端串?dāng)_
內(nèi)置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪圖
支持眼圖生成，內(nèi)置眼圖的模板測試功能
支持行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)電氣層測試，包含USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等，并可以自定義標(biāo)準(zhǔn)
內(nèi)置延時和抖動計算模塊，方便進行對內(nèi)延時和對間延時計算
包含調(diào)整端口順序、S 參數(shù)拆分和S 參數(shù)合并等*S 參數(shù)處理功能
內(nèi)置報告模板，一鍵式繪制各種曲線，自動生成相應(yīng)的word 和ppt文檔
內(nèi)嵌多種去嵌方法，其中自動直通夾具去嵌則用于移除測試夾具的影響，從而獲得被測器件的S 參數(shù)；自動端口延伸可方便的利用開路或短路補償夾具的損耗和相位，減少夾具對測試結(jié)果的影響。
