1.輻射騷擾試驗
測試說明
電子設(shè)備在工作時，由于高頻信號及非線性器件的存在會產(chǎn)生高頻的干擾信號，這些信號會通過電磁波輻射的方式發(fā)射到空間中，一方面會對設(shè)備自身性能產(chǎn)生影響，另外一方面也會影響周邊其它設(shè)備。因此需要對電子設(shè)備在工作時產(chǎn)生的干擾信號大小進行測試并加以
限制，以保證其它敏感設(shè)備的正常工作。
指標說明
測試等級: 30MHz一6GHz
依據(jù)標準: GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)
及采用類似測試方法的標準
測試環(huán)境: 電波暗室
2.傳導(dǎo)騷擾試驗
測試說明
電子設(shè)備在工作時，由于高頻信號及非線性器件的存在，會產(chǎn)生高頻的干擾信號，這些信號會通過電源線、信號線等互連電纜傳播出去。一方面會對自身性能產(chǎn)生影響，另外一方面也會影響互連其它設(shè)備。因此需要對電子設(shè)備在工作時產(chǎn)生的傳導(dǎo)干擾信號大小進行測試并加以限制，以保證其它接收設(shè)備的正常工作。
指標說明
測試等級: 150kHz一30MHz
依據(jù)標準: GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022)
GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)
及采用類似測試方法的標準
測試環(huán)境: 電磁屏蔽室
3.射頻電磁場輻射抗擾度試驗
測試說明
自然空間內(nèi)存在大量的廣播、電視、手機等電磁信號，電子設(shè)備內(nèi)部也存在大量的電磁信號，這些電磁發(fā)射信號會通過空間傳播的方式進入電子設(shè)備內(nèi)部，并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號，從而造成電子設(shè)備的性能下降或功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作，必須對其抗力進行測試。
指標說明
測試等級: 80MHz一6GHz 10V/m 80%AM
依據(jù)標準: GB 17626. 3
IEC/ISO 61000-4-3
及采用類似測試方法的標準
測試環(huán)境：由油日吝室
4.射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗
測試說明
電子設(shè)備內(nèi)部和外部都存在大量的互連電纜，電纜上存在的干擾信號會通過連接線進入電子設(shè)備內(nèi)部并產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)信號，從而造成電子設(shè)備的性能下降或者功能喪失。因此為保證電子設(shè)備的正常工作，必須對其傳導(dǎo)抗力進行測試。
指標說明
測試等級: 150kHz-80MHz 140dBuV typ
依據(jù)標準: GB 17626. 6
IEC/ISO 61000-4-6
測試環(huán)境: 電磁屏蔽室
5.靜電放電抗擾度試驗
6.電快速脈沖群試驗
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通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)
通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)
通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)
通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)
通用設(shè)備電磁兼容測試系統(tǒng)
