產(chǎn)品詳情 Product Information

         由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應(yīng)用，使得快速、直觀(guān)和高度精確的3D掃描在坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)中進(jìn)入全新的高度。全面革新且一體化的設(shè)計(jì)理念，包括匹配的輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測(cè)頭），為種類(lèi)繁多的應(yīng)用提供了的靈活性。高性能的軟件平臺(tái)colin3D能夠在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中，始終如一地保持高效并始終堅(jiān)持以項(xiàng)目為導(dǎo)向的操作過(guò)程。

面向用戶(hù)的、人性化的系統(tǒng)設(shè)計(jì)和易于操作的高效數(shù)據(jù)采集

         ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)原理。可根據(jù)操作者的需求量身定制，保證了掃描過(guò)程直觀(guān)、無(wú)疲勞感。由于配備了重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊的測(cè)頭，該系統(tǒng)非常適合于數(shù)據(jù)捕獲，即使最難以到達(dá)的區(qū)域也不例外。

        優(yōu)秀的技術(shù)特性，例如，針對(duì)各種對(duì)象的表面進(jìn)行高動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)采集，而其所具有的迄今不可見(jiàn)的數(shù)據(jù)速率可以達(dá)到的掃描速度并得到精確的測(cè)量結(jié)果。

手持式測(cè)頭進(jìn)行快速點(diǎn)測(cè)量

        ZEISS T-POINT接觸測(cè)頭快速可靠地測(cè)量所選擇的測(cè)量點(diǎn)，使其成為在物體區(qū)域內(nèi)進(jìn)行單點(diǎn)測(cè)量的解決方案，如（修剪）邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統(tǒng)的測(cè)頭一起使用，測(cè)頭更換更加簡(jiǎn)單、快速。

動(dòng)態(tài)參考

         即使在移動(dòng)的物體上也能得到高精密的三維數(shù)據(jù)記錄，通過(guò)采用動(dòng)態(tài)參考功能，在惡劣的環(huán)境條件下可以獨(dú)立執(zhí)行測(cè)量工作，如振動(dòng)（生產(chǎn)環(huán)境中，例如沖壓車(chē)間或

加工部件：對(duì)移動(dòng)車(chē)門(mén)的密封進(jìn)行測(cè)量）。

通用軟件接口

        從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)處理，至數(shù)據(jù)比較 - ZEISS T-SCAN系統(tǒng)可以通過(guò)眾多直接的實(shí)時(shí)接口進(jìn)行控制。因此，可以輕松集成到現(xiàn)有的工藝流程中。

用于不同的測(cè)量體積的光學(xué)跟蹤系統(tǒng)

        從小型到大型的物體 - 系統(tǒng)配置“CS+”和“LV”，為您的個(gè)人測(cè)量應(yīng)用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現(xiàn)的靈活性、ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

        ZEISS T-TRACK CS +光學(xué)跟蹤系統(tǒng)與所有其他系統(tǒng)組件進(jìn)行優(yōu)化匹配，因此開(kāi)辟了廣泛的測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域。

        的數(shù)據(jù)處理速率使測(cè)量具有的速度，有利于限度地減少物體掃描過(guò)程的時(shí)間。

通過(guò)采用創(chuàng)新型掃描和跟蹤相結(jié)合的大范圍測(cè)量，您將在光學(xué)三維數(shù)字化中獲得全新的視角。

        現(xiàn)在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數(shù)據(jù)-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達(dá)35立方米的跟蹤范圍，為您進(jìn)行有效的測(cè)量處理提供可能的運(yùn)動(dòng)自由。

蔡司T-SCAN的技術(shù)數(shù)據(jù)