美國(guó)泰克371A TEK371A晶體管測(cè)試儀
370A是全/球/著/名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管
、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管
、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。
在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測(cè)試工作
美國(guó)泰克371A TEK371A晶體管測(cè)試儀
主要參數(shù)：·半導(dǎo)體器件高精度測(cè)量
-上限達(dá)2000V或電流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的測(cè)量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的測(cè)量分辨率（370A）
·波形對(duì)比
·包絡(luò)顯示
·波形平均
·點(diǎn)光標(biāo)（370A）
·Kelvin傳感測(cè)量
·全程控
·MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲(chǔ)和調(diào)用
應(yīng)用
手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測(cè)量
來料檢查
生產(chǎn)測(cè)試
過程監(jiān)視及質(zhì)量控制
數(shù)據(jù)報(bào)告的生成
元件配對(duì)
失效分析
工程測(cè)試
交互式程
所有交互式程控測(cè)量是通過有鮮明特點(diǎn)的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲(chǔ)方式，調(diào)整和存儲(chǔ)操作
參數(shù)，包括370A的非
易失存儲(chǔ)器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。
測(cè)試夾具
測(cè)試夾具是標(biāo)準(zhǔn)附件，它提供被測(cè)器件安全防護(hù)，以保護(hù)測(cè)量人員的安全。測(cè)試夾具適應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的A1001
，中間通過Kelvin傳
感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。
370A程控特性曲線圖示儀
370A是全/球/著/名的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管
、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管
、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。
在研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報(bào)告這些具體的測(cè)試工作
在制造過程中，用370A檢驗(yàn)器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。
370A可進(jìn)行來料檢查、器件性能測(cè)試、失效分析和器件配對(duì)這些測(cè)試工作。
技術(shù)指標(biāo) 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 zui大峰值電流（±） 峰值電流
（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號(hào)發(fā)生器 模式
階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程- 電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，
按1-2-5順序 偏置 zui大到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測(cè)量特性 集電極電流- 測(cè)試量程：
100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值（點(diǎn)光標(biāo)） 發(fā)射極電流- 測(cè)試量
程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標(biāo)讀出+0.05div設(shè)定值+1nA 安全標(biāo)準(zhǔn) UL1244，
CSA231，HD401S1
