產(chǎn)品描述
Fischerscope X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀
特別是在測量涂層厚度時(shí),確保設(shè)備和樣品之間的距離保持恒定以及光束路徑筆直非常重要。FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀的三點(diǎn)支架允許您安全穩(wěn)定地設(shè)置設(shè)備,以精確測量涂層。菲希爾X射線測厚儀結(jié)果直接顯示在設(shè)備顯示屏上。
為了進(jìn)一步進(jìn)行數(shù)據(jù)評估,Fischerscope X-RAY XAN500配備了完整的WinFTM®軟件套件。WinFTM的涂層厚度測量和材料分析均基于基本參數(shù)分析。這使得無需事先校準(zhǔn)即可準(zhǔn)確測量–即無標(biāo)準(zhǔn)。對于那些只有精度才能滿足要求的場合,我們還提供DAkkS認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),使您能夠快速、輕松地校準(zhǔn)特定測量任務(wù)所需的設(shè)備。
Fischer X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN500特點(diǎn)
通用手持式X射線熒光分析儀,即使材料組合困難復(fù)雜的情況下,也可以進(jìn)行精確的鍍層厚度測量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)
重量1.9 kg
一次電池充電可持續(xù)運(yùn)行6個(gè)小時(shí)
測量點(diǎn):3毫米?
高分辨率硅漂移檢測器
用于戶外的IP54等級
用作臺(tái)式設(shè)備的可選測量箱;
使用完整版WinFTM®軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)