產(chǎn)品用途:
兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱說明:為了仿真不同電子構(gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境,縮短測試時(shí)間,降低測試費(fèi)用,但是必須要注意可能對(duì)材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
規(guī)范試驗(yàn)條件:
a.可設(shè)定沖擊溫都范圍
b.滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗(yàn)要求
c.可設(shè)定依據(jù)待測品溫變率控制
d.試驗(yàn)結(jié)束待測品回常溫避免結(jié)霜結(jié)露技術(shù)
e.采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力(非塑料負(fù)載)
f.進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
g.可執(zhí)行低溫0度沖擊并省電
創(chuàng)新&特色:
a.單一機(jī)臺(tái)可執(zhí)行RAMP(設(shè)定溫變率)、三箱(過常溫)、兩箱(高低溫沖擊)沖擊試驗(yàn)(一機(jī)三用)
b.可試驗(yàn)待測品負(fù)載數(shù)量大
c.需除霜循環(huán)數(shù)高(500cycle除霜一次),縮短試驗(yàn)時(shí)間與電費(fèi)
d.傳感器放置測試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性
控制系統(tǒng)
a.內(nèi)建雙向USB2.0隨身碟儲(chǔ)存接口(可拷貝試驗(yàn)曲線與加載試驗(yàn)程序)
b.完整實(shí)時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示,無時(shí)間限制
c.可與e化管理系統(tǒng)進(jìn)行整合監(jiān)控
名稱 | 型號(hào) | 溫度范圍 | 內(nèi)容積 | 溫變速率 |
提籃式冷熱沖擊箱 | LS-TCT-40系列 | 沖擊溫度-40~150℃ | 27L,64L,125L | 溫度恢復(fù)時(shí)間:3分鐘以內(nèi) |
LS-TCT-50系列 | 沖擊溫度-55~150℃ | |||
LS-TCT-60系列 | 沖擊溫度-65~150℃ | |||
三廂式冷熱沖擊箱 | LS-TS-40系列 | 沖擊溫度-40~150℃ | 49L,80L,150L | 溫度恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以內(nèi) |
LS-TS-50系列 | 沖擊溫度-55~150℃ | |||
LS-TS-60系列 | 沖擊溫度-65~150℃ |