COULOSCOPE CMS2 系列儀器庫侖法測(cè)厚分析儀
庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用可以肯定金屬鍍層厚度的電化學(xué)剖析辦法。這個(gè)辦法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，如今也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
庫侖法測(cè)厚分析儀可以用于丈量幾乎一切基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。丈量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。庫侖法確保丈量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠，儀器運(yùn)用煩瑣。丈量操作由儀器的指令自主完成，操作者不需求專業(yè)學(xué)問。庫侖法又是能夠丈量復(fù)合鍍層、多層鍍層的方法。例如丈量在鐵上依次鍍上的銅、鑷、鉻等。保證一切丈量和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)安全可靠，可打印數(shù)據(jù)和電壓特征曲線。
庫侖法測(cè)厚分析儀 特性：
使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)（庫侖法），精確地測(cè)量多鍍層的厚度
圖形顯示的交互方式，易于操作
適用性廣泛：可測(cè)量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測(cè)量多鍍層厚度
提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求
應(yīng)用：
金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
單層或多層的鍍層厚度測(cè)量
特別適用于通過 STEP 測(cè)試進(jìn)行多層鎳測(cè)量
適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測(cè)量
